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MProbe 40光反射式膜厚儀

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更新時間：2023-10-07 16:26:04瀏覽次數：339次

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利用反射原理推算膜厚，完整的軟體資料，內建500種以上材料數據供比對
Semiconsoft
利用反射原理推算膜厚，完整的軟體資料，內建500種以上材料數據供比對。
MProbe 40光反射式膜厚儀特點：
  • 具有體積小、快速、準確、非接觸式量測的優點
  • 搭配顯微鏡，光點大小為 4um~50um，可精準測試樣品中微小區塊
  • 可量測大部份半透明薄膜材料，膜厚從1 nm~1 mm
  • 多種波長型號可選，波長範圍200~1700nm
  • 適合R&D或生產線上即時檢測
  • 光纖導光，體積輕小，可放置一般桌上
MProbe 40光反射式膜厚儀

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