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多角度寬光譜橢偏儀M-2000
M-2000系列光譜橢偏儀旨在滿足薄膜量測的各種需求

型號：所在地：參考價：面議更新時間：2023/10/7 16:34:47 對比
多點量測橢偏儀Theta-SE(橢圓儀)
橢偏儀theta-SE多點量測橢偏儀是一種用於表徵薄膜均勻性的光譜式橢偏儀

型號：所在地：參考價：面議更新時間：2023/10/7 16:32:00 對比
橢圓偏光儀Alpha-SE非破壞性薄膜/光阻厚度量測
橢偏儀光譜橢偏儀Alpha-SE非破壞性薄膜厚度量測儀是J.A.Woollam橢偏儀產品中

型號：所在地：參考價：面議更新時間：2023/10/7 16:29:14 對比
VUV-VASE Ellipsometer薄膜厚度量測儀
VUV-VASEEllipsometer薄膜厚度量測儀以M-2000為主體

型號：所在地：參考價：面議更新時間：2023/10/7 16:16:14 對比
VASE高精度薄膜厚度量測儀
J.A.WoollamVASE是一款高精度多角度橢圓偏光儀，V-VASE系統非接觸式膜厚量測，垂直擺放樣品，移動精度高，量測角度從15-90度，可進一步量測樣品...

型號：所在地：參考價：面議更新時間：2023/10/7 16:13:25 對比