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詳細摘要： 波長調諧式干涉條紋分析系統產品型號：機械相移分析系統主要通過壓電陶瓷在較高電壓作用下產生一定的伸縮變形，從而帶動反射鏡產生微小的平移，改變光程形成干涉，利用專門...

詳細摘要： 機械相移式干涉條紋分析系統產品型號：太科波長調諧式干涉條紋分析系統是一套用于檢測光學元件面形的專業工具。該系統通過改變激光的波長產生相移，形成干涉條紋，再利用專...

詳細摘要： INF100-LP/LS球面干涉儀產品型號：INF100-LP/LS高精度、多品種透鏡的光學表面面型測量高精度平面光學元件的表面面型測量給出面型綜合分析，數據處...

詳細摘要： INF150-LP/LS激光球面干涉儀產品型號：INF150-LP/LSINF150-LP/LS激光球面干涉儀主要用于平面、球面及非球面等光學元件的面型測試！

詳細摘要： INF60H-LP/LS臥式激光球面干涉儀產品型號：INF60H-LP/LSINF60H-LP/LS臥式激光球面干涉儀主要用于球面光學元件及系統的測試！

詳細摘要： INF60-LS球面干涉儀產品型號：INF60-LS各類中小透鏡，球面反射鏡的光學表面面型測量

詳細摘要： INF25-LP蓋板干涉儀產品型號：INF25-LP主要用于手機蓋板、晶體、平行平板等雙面拋光元件的透射及反射面型測試！

詳細摘要： INF60-LP激光平面干涉儀產品型號：INF60-LP平面光學元件表面面型測量

詳細摘要： INF150-LP激光平面干涉儀產品型號：INF150-LP平面光學元件的表面面型測量平面光學元件平行度測量

詳細摘要： INF450-LP-WM激光平面數字干涉儀產品型號：INF450-LP-WM成像質量良好，結構簡潔臥式結構，雙端口測量操作方便，使用簡單波長調諧相移解相分析系統

詳細摘要： INF150V-LP激光數字平面干涉儀產品型號：INF150V-LPINF150V-LP激光數字平面干涉儀主要用于生產現場平面元件的數字化測量！

詳細摘要： INF300V-LP激光平面干涉儀產品型號：INF300V-LP測量光學平面面型精度測量光學元件的材料均勻性對干涉條紋進行數據分析處理，給出檢驗報告

詳細摘要： INF200V-LP激光平面干涉儀產品型號：INF200V-LP中大口徑光學元件平面面型精度測量對干涉條紋進行數據分析處理，給出檢驗報告

詳細摘要： INF600-LP-WM激光平面干涉儀產品型號：INF600-LP-WM雙端口檢測大口徑平面元件面型檢測光學材料均勻性測量元件面型分析，光學數據處理

詳細摘要： INF300H-LP-WM激光平面干涉儀產品型號：INF300H-LP-WM測量光學平面面型精度測量光學元件的材料均勻性對干涉條紋進行數據分析處理，給出檢驗報告

詳細摘要： INF800-LP-WM激光平面數字干涉儀產品型號：INF800-LP-WM成像質量良好 臥式結構，雙端口測量操作方便，使用簡單波長調諧相移解相分析系統