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程式型輪廓自動量測 PF-150

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更新時間:2022-06-02 10:52:42瀏覽次數(shù):459

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產(chǎn)品簡介

廠牌 : 三鷹光器日本三鷹光器公司生產(chǎn)非接觸式點雷射聚焦表面輪廓量測儀PF-150,適合用於光學(xué)級表面幾何輪廓,平面度與粗糙度量測,可應(yīng)用於6吋以下樣品之全域面積掃描,及擴(kuò)充自動化量測。

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品說明

採用點雷射自動聚焦方式(符合ISO25178-605 Point Autofocus Probe量測原理),雷射聚焦樣品表面掃描,當(dāng)使用x100物鏡聚焦樣品表面時雷射光點尺寸(Spot size)φ1um,可量測微結(jié)構(gòu)表面形貌。

PF-150 適合6寸以下樣品掃描式表面輪廓儀,量程X/Y/Z為150/150/10mm且三軸都用光學(xué)尺解析,樣品放置空間X/Y/Z為200/200/100mm,適合12KgW以下載重各種樣品量測需求。

對於小尺寸陣列樣品量測,例如Micro Lens Array, Pattern Step Height…等,可加購MACRO量測軟體達(dá)到自動化量測需求。

元宇宙商機(jī)帶動的AR鏡片、自由曲面鏡片F(xiàn)ree Form Lens,汽車使用抬頭顯示器鏡片HUD,PF-150提供良好的量測數(shù)據(jù)。

特色

  • 適合量測材料:鑽石、透明、液態(tài)膠狀、石墨黑、陶瓷白…等表面輪廓。
  • 一次量測樣品同時解析幾何輪廓與表面粗度數(shù)據(jù)
  • 適合量測工件:陶瓷基板PATTERN線寬、線高程式自動量測
  • 標(biāo)準(zhǔn)分析軟體:2D/3D輪廓及粗度分析、平面度分析
  • 選購分析軟體:批次分析、2D/3D CAD比對軟體、非球面評價軟體
  • 數(shù)據(jù)重現(xiàn)性佳

規(guī)格

程式型輪廓自動量測 PF-150
X軸 Y軸 AF(Z1)軸
(量測用)
Z2軸
(定位用)
量測距離 150mm 150mm 10mm 100mm
定位分辨率 0.1µm 0.1µm 0.01µm 0.1µm
光學(xué)尺 光學(xué)尺 光學(xué)尺 脈衝
精度 (2+4L/1000) µm (2+4L/1000) µm (0.3+0.5L/10) µm
光學(xué)自動對焦系統(tǒng) 重現(xiàn)性 σ=0.03µm(鏡面(樣品)表面)
聚焦範(fàn)圍 ? 1µm(搭配100X 物鏡)
雷射 半導(dǎo)體雷射(O/P: 1mW Max λ : 635nm class 2)
量測用物鏡 100X (WD=3.4mm NA=0.8)
觀察倍率:約1100倍(9吋螢?zāi)唬?/td>
定位用物鏡 5X滑動機(jī)構(gòu)[視野範(fàn)圍]
落射照明 科勒照明(光源: 白LED)
其他 XY平臺尺寸 244x240mm
樣品高度 100mm
樣品重量 12kg
儀器尺寸 155x90x140cm
避震器 彈簧式(震盪<10 hz)="">
儀器重量 210kg

菲涅爾鏡Fresnel Lens面形量測

適配產(chǎn)品PF-150

元宇宙帶動虛擬實境(VR)、擴(kuò)增實境(AR)商機(jī),菲涅爾鏡片是重要光學(xué)元件之一。 三鷹光器的量測儀器屬於非接觸形表面掃描輪廓儀,精準(zhǔn)聚焦樣品表面,大行程高精度的輪廓量測儀器,XY軸光學(xué)尺定位精度0.1um,Z軸量測精度10nm光學(xué)尺保證精度。 NH系列量測儀器可結(jié)合影像做XYZ座標(biāo)尺寸量測,或是表面輪廓掃描。

量測應(yīng)用
  • 精密光學(xué):HUD抬頭顯示器鏡片、FREE FORM自由曲面鏡片
  • 元宇宙開發(fā)metaverse:虛擬實境 VR(Virtual Reality)鏡片
  • 擴(kuò)增實鏡 AR(Augmented Reality)
  • CAD比對、粗度量測、非球面評價
  • 半導(dǎo)體:光阻輪廓、光波導(dǎo)輪廓、表面粗度量測

光學(xué)鏡片輪廓批次量測

適配產(chǎn)品PF-150

圖一 部件說明:1.工業(yè)級電腦與評估軟體。2.顯示器。3.自動對焦量測系統(tǒng)。4.防震臺與控制器。

圖二 PF-150 機(jī)臺照片與將批次生產(chǎn)的光學(xué)鏡片放載臺上量測方法。

日本三鷹光器產(chǎn)品對於光學(xué)鏡片量測上優(yōu)勢
  • 非接觸式量測,不劃傷鏡片。
  • 批次量測,每片皆能自動尋心。
  • 座標(biāo)與即時影像觀察,掌握缺陷原因

PF-150量測方式依照ISO 25178-605點雷射自動聚焦非接觸式探針法掃描樣品表面輪廓,搭配X-Y量測行程150mm的大範(fàn)圍,可將非球面鏡片直接批次置入載盤上(上如圖一所示)。

開啟批次量測程式並執(zhí)行量測,量測儀器會依照程式步驟移動至每個鏡片位置,並開始進(jìn)行自動尋心後掃描輪廓。掃描完成數(shù)據(jù)可帶入非球面分析軟體,執(zhí)行分析。

由於是非接觸式,量測過程不會造成鏡片刮傷,所以確認(rèn)鏡片數(shù)據(jù)OK後,僅需針對不良品進(jìn)行處置,良品無須再進(jìn)行量測後去刮痕重工(或報廢),即可釋放下一站進(jìn)行後續(xù)作業(yè)。

圖三 非球面分析輪廓擬合結(jié)果,面型PV值=0.15um,R.M.S= 0.2um

即時影像量測與缺陷檢出

即時影像觀察也協(xié)助量測發(fā)現(xiàn)異常品時,可以快速釐清原因。如下案例說明,異物造成擬合PV值異常與清除後的PV值的結(jié)果。由於三鷹光器的量測設(shè)備的具備座標(biāo)與即時影像觀察功能。當(dāng)發(fā)現(xiàn)輪廓分析上有異常的數(shù)據(jù)時,可將鏡頭移動至此處,進(jìn)行進(jìn)一步觀察與分析。此案例發(fā)現(xiàn)造成PV值異常的原因是因異物附著表面造成。後續(xù)針對鏡片進(jìn)行清潔,重新量測後發(fā)現(xiàn)PV明顯改善,並針對可能造成此異物產(chǎn)生的加工步驟加以製程進(jìn)行改善。

圖四 異物造成擬合PV異常的釐清案例。

更進(jìn)一步,上述案例移除異物後,表面觀察到損傷,也可以執(zhí)行進(jìn)一步分析損傷區(qū)域與未受損傷區(qū)域粗度差異,確認(rèn)損傷的程度是否可能對光學(xué)使用上造成影響。

圖五 鏡片表面損傷與否與Ra值差異比較

總和說明,PF-150功能上除了面形測試外,更可以同時具有表面粗度量測的功能,除了單純的量測與評價外,更可以進(jìn)行異常分析,以釐清不良品的原因,並提供後續(xù)異常處裡所需要的評估數(shù)據(jù)。

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