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【簡單介紹】
【詳細說明】
OMP40-2光學測頭
用于在中小型加工中心和小型多用途機床上進行工件檢測和工件找正。
超小型測頭
OMP40-2是采用光學信號傳輸的超小型3D觸發式測頭。它可用于在中小型加工中心以及日益增多的裝有小型HSK和錐形主軸的高速機床上進行工件找正和檢測。
OMP40-2與所有雷尼紹光學接收器兼容,因此用戶可輕松升級現有裝置。
特性與優點
成熟的運動機構設計
采用調制傳輸功能,具有優異的抗光*力
360°傳輸范圍
超小型設計
1 μm 2σ重復性
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測頭
斷刀檢測
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XM-60多光束激光干涉儀
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