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【簡單介紹】
【詳細說明】
OMP60光學測頭
用于在各種型號的加工中心和中小型多用途機床上進行工件檢測和工件找正。
用于工件找正和檢測
OMP60超小型3D觸發式光學測頭,用于在各種大中型加工中心上進行工件找正和檢測。它使在機輔助時間節省90%之多,并可減少廢品率,降低夾具成本。
與所有雷尼紹光學接收器(傳統和新型)兼容,因此用戶可輕松升級現有裝置。
特性與優點
成熟的運動機構設計
采用調制傳輸功能,具有優異的抗光*力
360°傳輸范圍
超小型設計
各種激活選項和可調節能力
1 μm 2σ重復性
請輸入產品關鍵字:
測針選型幫助
測頭
斷刀檢測
磁編碼器
XL-80激光干涉儀
對刀儀
測針種類
激光尺
光柵
Zeiss測頭*測針
XM-60多光束激光干涉儀
XR20-W無線型回轉軸校準裝置
QC20-W球桿儀
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上海泉田機電有限公司
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