1..安捷倫 4287A射頻LCR測試儀在1 MHz～3 GHz頻率范圍可以提供精確、

9..可靠和快速測量，以改進生產線上對電子元件進行測試的質量和生產率。與反射測量技術不同，

1..采用直流電壓測量技術能在大的阻抗范圍進行精確測量。

6..安捷倫 4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量速度非常快。

2..此外，在小測試電流(100mA)處優良的測試重復性還可以顯著提高生產率，因為所需的取平均過程非常短。

2..測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點附近，

8..而不會使誤差有任何增大。內置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機的組合。

1..增強的比較器功能可以使復雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。

彩色顯示器能清楚觀察測量設置和結果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。

內置統計分析功能可以提供監視測試質量和效率的過程。可選用的LAN接口有助于統一進行生產監控。

此外，若干APC-7，SMD測試夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉APC-7適配器聯用，從而無需制作專用夾具。