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陜西博微電通科技有限責任公司


  • 博微BOWEI半導體光耦晶振壓敏綜合測試系統

    詳細摘要: BW-4022C半導體綜合測試系統是針對于半導體器件開發專用測試的系統,經我公司產品升級與開發,目前亦可以對二極管、光電耦合器、壓敏電阻、鋰亞電池、晶振5種器件...

    產品型號:BW-4022C所在地:西安市更新時間:2025-03-20 在線留言

  • 浪涌電流測試儀

    詳細摘要: 可用于各類二管(Diode)以及可控硅(SCR)的正向浪涌電流(IFSM)試驗,包括三管(Triode)、MOSFTE、IGBT等全控器件的內置二管的浪涌測試。...

    產品型號:BW-IFSM/ITSM所在地:西安市更新時間:2025-03-20 在線留言

  • 博微BOWEI雪崩耐量測試系統

    詳細摘要: 雪崩能量測試臺,是針對半導體器件 IGBT、二極管、MOS 等設計的測試設備 儀器,對于那些在應用過程中功率器件兩端所產生較大的尖峰電壓,就要考慮 器件的雪崩能...

    產品型號:BW-UIS-3500所在地:西安市更新時間:2025-03-20 在線留言

  • 博微BW-半導體溫度循環實驗系統

    詳細摘要: BW-AH-5520半導體高精度自動溫度實驗系統采用特殊的結構設計,保證待測元器件區域溫度高穩定度及均勻度。采用雙高精度 RTD 溫度傳感器進行精密控溫及過溫保...

    產品型號:BW-AH-5520所在地:西安市更新時間:2024-11-07 在線留言

  • 博微BOWEI-高精度半導體分立器件測試系統

    詳細摘要: BW-4022A 針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度靜態參數包括導通、關斷、擊穿、漏電、增益等直流參數進...

    產品型號:BW-4022A所在地:西安市更新時間:2024-08-29 在線留言

  • 博微BOWEI-便捷式晶體管直流參數測試儀

    詳細摘要: BWDT-3022A 型晶體管直流參數測試儀可測試三極管、MOS 場效應管、J 型場效應管、整流二極管、三端肖特基整流器、三端電壓穩壓器和基準器 TL431,為...

    產品型號:BW-3022A所在地:西安市更新時間:2024-08-29 在線留言

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