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CLAS-2D系統(tǒng)

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更新時間:2023-10-12 14:51:10瀏覽次數(shù):303次

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CLAS-2D™Shack-Hartmann波前儀系統(tǒng)涵括了干涉儀(interferometer)、光斑分析(beamprofiler)、光束品質(zhì)計(Beamqualitymeter)
Lumetrics
CLAS-2D™ Shack-Hartmann波前儀系統(tǒng)涵括了干涉儀(interferometer)、光斑分析(beam profiler)、光束品質(zhì)計(Beam quality meter)。系統(tǒng)的軟體用以分析光的畸變(aberration),包含散光性(astigmatism), 慧差(coma), 球面畸變(spherical aberration), 聚焦誤差(focus error/collimation), 傾斜(tilt)以及更多。 CLAS-2D還附加量測M2光斑品質(zhì)、MTF(Moudulation transfer function)、Strehl Ratio、近場和遠場的光斑散度(Beam divergence),以及其他的光斑參數(shù)。雷射可用連續(xù)(CW)和脈衝式(Pulse),機型有可見光、近紅外光、遠紅外光三種型號可選擇。
CLAS-2D系統(tǒng) 特點:
  • 雷射光斑解析Laser beam diagnostics
  • 光學測試Optical testing
  • 對準Alignment
  • 角度測量Angular measurement
  • 準直Collimation
  • 表面測量Surface measurement

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