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基于蔡司METROTOM 的工業計算機斷層掃描（CT）
利用蔡司的工業計算機斷層掃描系統，僅需一次 X 射線掃描，即可順利完成工件的測量和檢驗。標準的驗收檢測、精密工程和完善的校準程序可確保系統的追蹤性。配備線性導軌及轉臺，滿足客戶對精確性的高要求。
詳細介紹
ZEISS METROTOM
用于質量保證的三維 X 射線測量技術
設備Systems
特性 Features
應用Applications
ZEISS METROTOM創新技術
第三代新款蔡司METROTOM 1500-面向未來的質量控制——今天
蔡司METROTOM系列一直為質量控制提供可靠的CT技術。第三代計算機斷層掃描（CT）系統蔡司METROTOM 1500地證明了*可靠的X射線技術不再是未來的愿景。今天，您可以使用面向未來的質量控制。
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第三代計算機斷層掃描（CT）系統
蔡司METROTOM 1500地證明了*可靠的X射線技術不再是未來的愿景。今天，您可以使用面向未來的質量控制。
ZEISS METROTOM特性
看得更多。
在第三代系統中，新的3k檢測器可生成更高分辨率的3D體數據集，即更多體素可以檢測到更小的缺陷。
掃描更快。
通過檢測器的不同操作模式，掃描時間可減少多達75％，同時獲得與2k檢測器相當的體素尺寸。
測量與檢驗整體部件
蔡司METROTOM是一種工業計算機斷層掃描系統，用于測量和檢查由塑料或輕金屬制成的完整部件。而在利用傳統測量機測量時，此類隱藏性的結構信息只有將零件通過費時的層層破壞方能獲得。
輕松且精準地進行多樣化特征檢測
利用蔡司METROTOM 計算機斷層掃描系統可一次掃描海量的零部件特征。這些測量結果非常精確，且具可追溯性。和接觸式測量方法不同，蔡司METROTOM 獲取海量測量點時，時間顯著縮短。
直觀簡易的軟件操作
僅需通過短時間的蔡司METROTOM OS 軟件培訓課程，操作人員即可對零件進行掃描，透視零件的內部。通過蔡司CALYPSO和NEO軟件，您可以評估CT數據，通過蔡司PiWeb，它們可以在一個測量報告中快速合并。
蔡司METROTOM系列型號
METROTOM 800 130 kV
高精準度
部件尺寸 | ●○○○ |
精度 | ●●●● |
時間 | ●○○○ |
面積 | ●●●● |
密度 | ●●○○ |
分辨率 | ●●●● |
ZEISS METROTOM 6 scout
快速采集，高密度的部件
部件尺寸 | ●●○○ |
精度 | ●●●○ |
時間 | ●●●○ |
面積 | ●●○○ |
密度 | ●●●○ |
分辨率 | ●●○○ |
ZEISS METROTOM800 225kV HR快速獲取，高密度的部件和細節描述
部件尺寸 | ●●○○ |
精度 | ●●●○ |
時間 | ●●○○ |
面積 | ●●○○ |
密度 | ●●●○ |
分辨率 | ●●●○ |
ZEISS METROTOM 1500即使對于非常大的部件也能實現更多的靈活
部件尺寸 | ●●●● |
精度 | ●●○○ |
時間 | ●●●● |
面積 | ●○○○ |
密度 | ●●●● |
分辨率 | ●●●○ |
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