電池防爆試驗(yàn)箱故障維修

產(chǎn)品用途：

：該儀器適用于工業(yè)產(chǎn)品高、低溫的可靠性試驗(yàn)。對(duì)電子電工、汽車(chē)摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫（交變）循環(huán)變化的情況下,檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。產(chǎn)品具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件，適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫、高溫試驗(yàn)及恒定溫?zé)嵩囼?yàn)。產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標(biāo)準(zhǔn)

電池防爆試驗(yàn)箱：

隔爆型“b"防爆形式，是指隔爆外殼內(nèi)放入可能產(chǎn)生火花，電弧和危險(xiǎn)溫度的零部件，設(shè)備內(nèi)部空間與周?chē)沫h(huán)境通過(guò)隔爆外殼分離開(kāi)來(lái)。

本安型‘i’防爆形式是在設(shè)備內(nèi)部的所有電路都是由在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定條件下，產(chǎn)生的任何電火花或任何熱效應(yīng)均不能點(diǎn)燃規(guī)定的爆炸氣體環(huán)境的本質(zhì)安全電路。

正壓型‘P’防爆形式，是通過(guò)保持設(shè)備外殼內(nèi)部保護(hù)氣體的壓力壓力高于周?chē)ㄐ原h(huán)境壓力，以達(dá)到安全的目的。

增安型‘e’防爆形式是指采取一些附加措施使正常運(yùn)行條件下不會(huì)產(chǎn)生電弧，火花的電氣設(shè)備更加安全。

沖砂型‘q’防爆形式是一種在外殼內(nèi)充填沙粒或其他規(guī)定特性的粉末材料，使之在規(guī)定的使用條件下，殼內(nèi)產(chǎn)生的電弧或高溫均不能點(diǎn)燃周?chē)ㄐ詺怏w環(huán)境的電氣設(shè)備保護(hù)型式。

澆封型‘m’防爆型式是將可能產(chǎn)生引爆引起爆炸性混合物爆炸的火花，電弧或危險(xiǎn)溫度部分的電氣部件，澆封在澆封擠（復(fù)合物）中，使它不能點(diǎn)燃周?chē)ㄐ曰旌衔铩?/span>

油浸型“o"防爆型式是將整個(gè)設(shè)備或設(shè)備的部件浸在油內(nèi)（保護(hù)液），使之不能點(diǎn)燃面以上或外殼外面的爆炸性氣體環(huán)境。

粉塵防爆型電氣設(shè)備是采用限制外殼溫度和采用‘塵密’或‘防塵’外殼來(lái)限制粉塵進(jìn)入，以防止可燃性粉塵點(diǎn)燃。

技術(shù)參數(shù)  

1.溫度范圍：    －40℃～150℃

2.溫度均勻度：   ≤ 2℃  （空載時(shí)）

3.溫度波動(dòng)度：   ±0.5℃ （空載時(shí)）

4.溫度偏差：     ≤±2℃

5.升降溫速率：   0.7℃～1.0℃/min  （空載時(shí)）

6.時(shí)間設(shè)定范圍：  0～999 小時(shí)

7.預(yù)裝容量：     4KW

8.工作室尺寸：   400×500×500㎜

9.外型尺寸：     1050×1000×1550㎜

溫度范圍 ：-20,-40,-60,-70,-80+100(150)

溫度波動(dòng)度：±0.5

溫度均勻度: ±2.0

升溫速率：12/min

降溫速率：1/min

濕度范圍：3098 R.H（溫度在2580時(shí)）（可設(shè)定恒濕）

濕度波動(dòng)度：  ±2

濕度偏差：  ±2.5R.H(濕度75R.H)   ±3R.H(濕度75R.H)

溫度交變范圍：-20;-40;-60;-70；-100100(150)（自定）
濕度交變范圍：3098 R.H（自定）
總功率：5.5KW/6.5KW/8.5KW/11KW/12KW        
噪音：＜65dB

電池防爆試驗(yàn)箱故障維修

（防爆型）執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件.

GB/T10592-1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件.

GB/ T 2421-1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 總則.

GB/ T 2423.21- 1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M:高/低氣壓試驗(yàn)方法 .

GB/ T 2423.25- 1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法 .

GB/ T 2423.26- 1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法 .

GB/T2423.3-89電工電子產(chǎn)品試驗(yàn)規(guī)程，恒定濕熱試驗(yàn)方法

GB/T2423.4-89交變濕熱試驗(yàn)方法

GB/2423.34-86.MIL-STD883（方法1004.2）高低溫組合循環(huán)試驗(yàn).

GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序.

防爆等級(jí)：Exd  BT4

GJB/150A-2009.實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第1部分