當前位置:廣州鴻熙電子科技有限公司>>分析儀>>X射線鍍層厚度分析儀>> iEDX-150WTX射線鍍層測厚儀
產地 | 進口 | 售后保修期 | 12個月 |
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銷售區域 | 全國 |
產品優勢
1. 鍍層檢測,多鍍層檢測可達5層,精度及穩定性高(見以下產品特征詳述)。
2. 平臺尺寸:620*525mm,樣品移動距離可達110*110*5mm。(固定臺可選)
3. 激光定位和自動多點測量功能。
(二)產品特征
2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數字轉換器)。
可以增加RoHS檢測功能。
勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線性模式進行薄鍍層厚度測量
相對(比)模式 無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層厚度同時測量
當化金厚度在2u〞-5u〞時,測量時間為40S
準確度規格 ±5%
精確度規格 <5%(COV變動率)
當化金厚度 >5u〞時,測量時間為40S
準確度規格 ±5%
精確度規格 <5%(COV變動率)
當化銀厚度在5u〞-15u〞時,測量時間為40S
準確度規格 ±8%
精確度規格 <7%(COV變動率)
測化錫時,測量時間為40S
準確度規格 ±8%
精確度規格 <6% (COV變動率)
準確度公式:準確度百分比=(測試10次的平均值-真值)/真值**
精確度COV公式: (S/10次平均值)**
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