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詳細摘要： VoluMax工業CT

詳細摘要： ACCURA三坐標測量機

詳細摘要： O-INSPECT-863

詳細摘要： 蔡司三坐標,蔡司懸臂式三坐標,三坐標測量機

詳細摘要： MICURA小型高精度三坐標

詳細摘要： DuraMax在線三坐標

詳細摘要： O-INSPECT 543

詳細摘要： 蔡司影像測量儀O-DETECT　　直觀的操作，高質量的攝像頭和靈活的照明，可立即進行精確測量。適用于各種組件，但主要適合那些*好用左手觸摸的組件。探索新一代光學...

詳細摘要： SurfMax表面缺陷檢測系統

詳細摘要： New SPECTRUM高性價比三坐標

詳細摘要： 蔡司CONTURA三坐標測量機可配備固定型被動式探頭、靈活的蔡司RDS關節式探頭座或主動式掃描測針。各類探頭均具有掃描功能。主動式探頭采用蔡司navigator...

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詳細摘要： 蔡司三維掃描儀ATOS Q擁有GOM三重掃描技術優勢，測量頭可以在各個位置獲得三種視角的不同測量數據。系統會先看左右相機重疊掃描部分數據，然后單獨看左側相機生成...

詳細摘要： Surfmax 的是一臺可配置的在線三坐標檢測儀，用于三維零件的曲面評估。得出客觀的結果，可復制，而且不受波動影響。無需采取任何另外的措施，可將指的檢查標準傳送...

詳細摘要： 點膠和底部填充的空洞問題，對BGA及類似器件可靠性的危害很大，尤其是對于尺寸較大的BGA和CSP或WLP器件。為消除空洞，我們須清楚它的來源，雖然產生空洞的原因...

詳細摘要： 您是否還在為找不到易于使用，　　同時也適合初學者的體積數據分析軟件而發愁?　　試試“GOM Volume Inspect"吧!　　提供創新的3D體積可視化和檢查...

詳細摘要： 蔡司開啟電子顯微鏡速度的革新時代　　借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度。現如今，您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這...

詳細摘要： 蔡司GeminiSEM系列高對比度、低電壓成像的場發射掃描電子顯微鏡　　具有出色的探測效率，能夠輕松地實現亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，更...

詳細摘要： 將場發射SEM（FE-SEM）技術與分析相結合。受益于久經考驗的雙子座電子光學器件。從多種檢測器選項中進行選擇：材料科學中的圖像顆粒，表面和納米結構，研究半導體...

詳細摘要： 蔡司掃描電子顯微鏡EVO系列　　模塊化的 SEM 平臺適用于直觀操作、例行檢測和研究應用　　EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結合在一起，...