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詳細摘要： 儀器外形美觀，結構緊湊，操作方便。光源采用高亮度、長壽命鹵鎢燈，照明均勻。外形美觀，測量精度高，工作臺選用航空鑄鋁，重量輕。光學系統品質優良，物鏡成像清晰，放大...

詳細摘要： 倒置式投影儀，操作方便。軸流風機雙向散熱，提供*散熱能力。特別適合投影像的描繪、輪廓形狀觀察等測量。物鏡變換采用直插式，更換簡單方便；儀器配有多功能數顯箱。

詳細摘要： 儀器外形美觀，結構緊湊，操作方便。光源采用高亮度、長壽命鹵鎢燈，成像清晰，照明均勻。透射照明亮度分高低兩檔可調，適應于不同測量要求。根據被測工件的尺寸，提供三種...

詳細摘要： 采用長壽命鹵鎢燈，滿足長時間使用投影儀的需求。工作臺運動范圍大，承重能力強，適合大尺寸零件的測量。投影屏面積大，對各種大尺寸復雜零件做比較測量時，能一次*顯示，...

詳細摘要： 采用臥式光路設計，便于測量在線加工被測零件。工作臺測量范圍大，承重能力強，測量范圍廣。工作臺能偏擺±15°，便于測量帶螺旋角零件。高低兩擋不...

詳細摘要： 大型工作臺，承重能力強，測量范圍大。工作臺升降用電機驅動，操作方便。高精度物鏡轉盤，變換倍率方便，定位準確。光學系統為遠心光路，采用平行光照明，測量誤差小。內調...

詳細摘要： 采用臘屏新技術，附加讀數放大鏡，視場亮度勻稱，像質清晰。儀器測量精度高，數據穩定可靠，對于小尺寸精密零件的檢測方便快捷。儀器結構設計緊湊，外形尺寸小巧，便于運輸...

詳細摘要： 采用進口精密光柵作為測量元件，穩定性好、發熱 量低、抗腐蝕、耐污染。光柵材料膨脹系數與鋼相同，受環境溫度影響小。采用計算機數據處理技術，配合一維測量軟件，能高效...

詳細摘要： 底座采用優質鑄鐵制造，箱體式封閉結構，具有足夠的剛性和穩定性；測量基準采用Renishaw激光干涉儀,設計上*符合阿貝原理，從而能達到較高測量精度；測長機帶有環...

詳細摘要： 光柵數顯化：采用鋼帶反射光柵直接粘貼在床身基面上，測量長度顯示在計算機顯示屏上。溫度誤差實時補償：配有溫度傳感器，計算機能自動完成溫度誤差的實時補償。基座：優質...

詳細摘要： 基座采用優質鑄鐵，經*自然時效處理，確保足夠鋼性和穩定性。利用愛賓斯坦光學原理，實時修正阿貝誤差保證了測量精度。投影讀數屏采用新穎投影系統，像質清晰。工作臺可多...

詳細摘要： 采用光電數顯技術，以精密光柵尺作為X、Y軸測量元件，測量長度數字顯示，讀數直觀，檢測方便；采用數碼圖像技術,自動識別輪廓邊界，減少人為誤差，提高操作效率；配有功...

詳細摘要： 采用進口精密光柵系統作為測量元件，具有發熱量低、抗腐蝕、耐污染、耐震性好等眾多優點。帶有功能強大的圖像處理軟件，可以完成復雜的測量工作，軟件數據能與CAD通訊。...

詳細摘要： 基座選用優質鑄鐵，經*自然時效處理，穩定性好。測量主軸采用優化方形設計，確保測量時運動性能的穩定性。配置多種可選附件，能滿足不同測量要求。儀器采用了高精密的測量...

詳細摘要： 基座選用優質鑄鐵，經*自然時效處理，穩定性好。測量主軸采用優化方形設計，確保測量時運動性能的穩定性。擁有多種功能強大的附件可選，能滿足不同測量要求。光柵照明系統...

詳細摘要： 基座選用優質鑄鐵，經*自然時效處理，穩定性好。測量主軸采用優化方形設計，確保測量時運動性能的穩定性。配置多種可選附件，能滿足不同測量要求。儀器采用了高精密的測量...

詳細摘要： 主顯微鏡配有多種目鏡和物鏡，視場大，成像清晰。主顯微鏡可左右偏擺，適用于螺旋狀零件測量。帶有頂針架、V形支架、分度頭、測高裝置等多種附件，使用范圍廣。具備完善的...

詳細摘要： 主顯微鏡可左右偏擺，適用于螺旋狀零件的測量。主顯微鏡能配多種目鏡和物鏡，視場范圍大，成像清晰。采用光電數顯技術，以精密光柵尺作為XY軸測量元件，讀數直觀，檢測方...

詳細摘要： JX14B采用光電數顯技術，以精密光柵尺作為X、Y軸測量元件，數顯箱顯示數據，讀數直觀，檢測方便。主顯微鏡配有多種目鏡和物鏡，視場范圍大，成像清晰。主顯微鏡可左...

詳細摘要： 主顯微鏡配有多種目鏡和物鏡，視場大，成像清晰；采用光電數顯技術，以精密光柵尺作為測量元件，測量精 度高；主顯微鏡可左右偏擺，適用于螺旋狀零件測量；采用透、反射照...