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詳細摘要： 除主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓外，SuperViewW系列3D白光干涉顯微鏡具有的測量晶圓翹曲度功能，非常適合晶圓，太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量，應變...

詳細摘要： SuperViewW1國產白光干涉儀設備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能；除主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓外，具有的測量晶圓翹曲度功...

詳細摘要： Chotest白光干涉儀輪廓儀采用光學干涉技術、精密Z向掃描模塊和優異的3D重建算法組成測量系統，保證測量精度高。除主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓外，具有的...

詳細摘要： 中圖儀器SuperViewW1三維白光干涉形貌儀是以白光干涉技術原理，對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，專用于精...

詳細摘要： SuperViewW1白光干涉測量顯微鏡以白光干涉技術為原理，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數，從而實現...

詳細摘要： 白光干涉顯微鏡也叫白光干涉儀，是以白光干涉技術原理，對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點部位...

詳細摘要： SuperViewW1中圖國產白光干涉儀以白光干涉技術為原理，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數，從而實現...

詳細摘要： SuperViewW1中圖白光干涉儀三維表面測量系統以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通...

詳細摘要： SuperViewW1白光干涉儀光學三維輪廓測量儀以白光干涉技術為原理，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，是一款用于對各種精密器件及材料表面進行...

詳細摘要： SuperViewW1白光干涉儀精密測量表面三維形貌的重建算法自動濾除樣品表面噪點，在硬件系統的配合下，分辨率可達0.1nm。其雙通道氣浮隔振系統設計，既可以接...