主要特性與技術指標

1.. 基本精度?基本精度+/-0.8%

8..掃描參數?頻率：1 MHz 3 GHz

9..振蕩器電平：高達1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms

7..DC 偏置電平（選件E4991A-001）：+/- 40V 或+/- 50 mA

5..更多特性

3..Windows 風格的用戶界面

5..內置VBA 編程功能

3..通過LAN 接口進行數據傳輸多功能測量選件

2..介電/磁性材料測量（選件E4991A-002)

3..的晶圓測量（選件E4991A-010)

5..溫度特性測量（選件E4991A-007）描述E4991A 射頻阻抗/材料分析提供極限阻抗測量性能和功能強大的內置分析功能。

它將為元器件和電路設計人員測量3 GHz 以內的元器件提供***功能，幫助他們進行研發工作。

與反射測量技術不同，E4991A 使用射頻電流–電壓（RF-IV）技術，可在 的阻抗范圍內提供更 的阻抗測量結果。基本阻抗精度是+/-0.8%。

高Q 精度有利于進行低功耗元器件分析。內置合成器具有1 MHz到3 GHz 的掃描范圍和1 mHz的分辨率。材料評估E4991A 提供***介電/磁性材料測量解決方案，

涵蓋1 MHz 1 GHz的寬頻率范圍。晶圓測量借助E4991A-010 探針臺連接套件，您可輕松地地將Agilent E4991A 連接到射頻探頭系統（由Cascade Microtech 提供）

上進行晶圓測量。溫度特性評估溫度特性測試套件E4991A-007 是一款為元器件和材料進行溫度特性測量的***解決方案。該選件可在- 

55°C + 150°C 的溫度范圍內提供***的溫度特性分析功能，以及強大的溫度漂移補償功能