產品名稱：蔡司三坐標O-INSPECT

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產品介紹

蔡司三坐標O-INSPECT的測量精度及長期可靠性為大批量與高精度測量要求提供了解決方案。 O-INSPECT廣泛應用于真正3D測量的光學與接觸式測量技術。 光學測量技術僅受特性的視覺識別程度所影響。這取決于多種因素，例如零件自身的形狀、顏色和表面質量，以及光學檢測系統的質量、照明情況等。卡爾-蔡司蔡司三坐標O-INSPECT奠定了光學測量的基礎，即基于多功能與柔性的Discovery鏡頭、合適的照明系統及共聚焦白光傳感器。 蔡司三坐標O-INSPECT地結合了速度、光學傳感器的高分辨率以及接觸式測量系統的3D探測功能。迄今為止，O-INSPECT實現了4類獨立的測量系統功能，即顯微鏡、投影儀、坐標測量機與輪廓測量儀。同時，O-INSPECT能夠實現一臺設備一次設置即可完成全部的測量任務。多功能性使得O-INSPECT成為醫療技術、塑料技術、電子與精密工程領域的理想檢測方案。由于應用了密閉式導軌及集成了減振系統，蔡司三坐標O-INSPECT可直接在車間內的全封閉導軌和集成減振系統中使用。 O-INSPECT中的每個組件皆體現出了的性能，的結合確保了的效率。各類檢測任務可在同一臺設備中完成，因此采用O-INSPECT可省去多次不必要的重復檢測。更重要的是，O-INSPECT簡易和一致的操作理念可大大降低培訓要求。 區別于測量領域內普遍應用多個定焦鏡頭的情況，O-INSPECT的Discovery12x變焦鏡頭提供多達10種放大倍數可供自由選擇與切換。因此測量時無需更換鏡頭，使得測量速度更快，每種放大倍數下均可確保的重復再現性。與此同時，對于照明光強與聚焦技術Discovery亦體現了之優勢。傳統的遠心鏡頭通常功能有限，其Z向探測精度較低，而Discovery的不同之處在于，作為的遠心技術，其處于光強重要性略低的中間倍率等級上。 O-INSPECT對于非接觸3D細微結構的高效測量，可選配共聚焦白光傳感器，白光傳感器可用于測量反光或透明的對象。理想的照明取決于被測零件或特性，即軸向和側向照明、垂直和傾斜的照明角度或是由底部進行照明。O-INSPECT配備全面的照明單元確保其適用于所有的測量任務。 O-INSPECT配備靈活、快速及高精度的VASTXXT3D連續掃描測頭，不僅可實現單點觸測，更可高效精確測量各類形狀誤差。VASTXXT支持30～125?mm測針，可實現深孔的快捷測量，40mm的側向測針可確保的柔性，VASTXXT甚至可在不更換測針的條件下實現復雜工件快速測量。 O-INSPECT支持CNC運行中的測頭自動切換，甚至在一個檢測元素中亦可實現。即便手動切換，該測針亦可自動識別，無需耗時的重復校準。 O-INSPECT與CALYPSO測量軟件提供全新的可視化功能，可于同一視圖中同時顯示影像、CAD模型及測量值，同時可查看實際狀態、理論狀態及偏差，更快捷地詮釋測量結果。同時，CALYPSO軟件通過與其他蔡司三坐標的程序共享，可方便快捷地以同一測量策略完成所有的測量任務。 地結合了速度、光學傳感器的高分辨率以及接觸式測量系統的3D探測功能，是您測量各類中小型零部件的理想之選。