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自動清潔度分析系統(顆粒大小分析設備)

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更新時間:2022-11-01 16:01:50瀏覽次數:693

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產品簡介

Cleanliness Expert是精密設計的零部件清潔度分析系統,對過濾紙的殘留粒子進行檢測,重要的是能對工件的清潔程度進行可靠和再現性的評估。全自動清潔度分析系統會自動將顆粒分為以下三類:金屬顆粒:通常是關注的,并且是關鍵的顆粒。非金屬顆粒,不含纖維:這些顆粒和金屬顆粒一樣是關鍵性污染物顆粒。纖維:這些顆粒在測試的準備和操作過程中是無法避免的。因此,即使有時候纖維是濾膜上的顆粒,其關注度......

詳細介紹

方案描述(技術參數、設備性能)

自動清潔度分析系統(顆粒大小分析設備)

自動清潔度分析系統(顆粒大小分析設備)

 
1、設備簡介:
Cleanliness Expert是精密設計的零部件清潔度分析系統,對過濾紙的殘留粒子進行檢測,重要的是能對工件的清潔程度進行可靠和再現性的評估。
全自動清潔度分析系統會自動將顆粒分為以下三類:
金屬顆粒:通常是關注的,并且是關鍵的顆粒。
非金屬顆粒,不含纖維:這些顆粒和金屬顆粒一樣是關鍵性污染物顆粒。
纖維:這些顆粒在測試的準備和操作過程中是無法避免的。因此,即使有時候纖維是濾膜上的顆粒,其關注度也是相對不高。
將顆粒預分為三類,可減少手動操作的工作量,并且限度的關注所有與實際操作相關的顆粒。
通過偏振鏡機構對濾膜進行二次掃描,并實現對濾膜上金屬和非金屬顆粒 的統計和鑒別。 針對塑料、玻纖等同樣會產生反射的物體,系統會自動將其與金屬顆粒區分開,此方法有效的回避了被誤判為金屬顆粒的風險。
對于尼龍網格編織膜的掃描數據表現同于表面濾膜的掃描數據,結果不受網格影響。
備注:
本設備設計參考理論依據
1)、ISO 16232/VDA19對顆粒屬性定義
2)、ISO 16232/VDA19分辨率定義
 自動清潔度分析系統(顆粒大小分析設備)
2、產品特點:
● 全自動運行掃描,無縫拼接技術
● 經過色差校正的高分辨率光學系統
● 采用像素解決方案
● 電腦控制和操作桿控制XYZ電動平臺
● 優化色溫恒定LED光纖照明
● 簡單而快捷的操作界面
● 掃描過程中的實時結果
● 可靠性和重復性
● 自動計算金屬顆粒,非金屬顆粒,纖維顆粒
● 自動聚焦,不平的濾紙也可以輕松掃描,滿足標準顆粒范圍檢測。
● 掃描過程自動拍照、進度實時可見;
● 提供視場圖片瀏覽檢查功能,非縮率圖,可以實現每個視場定位回溯等功能;
● 對每一個顆粒ID定位,隨時聚焦目標圖片顆粒,進行顆粒屬性尺寸驗證

3、系統性能
● 圖像捕獲:具有高分辨率實時彩色圖像捕獲能力,可以實時動態捕獲圖像序列,并自動拼接成一張完整的濾膜全貌圖片,顆粒無明顯錯位,保證分析精度。
● 高精度全新智能聚焦模式,保證每一張圖片清晰度。
● 可以縮小放大,實時觀察大圖中任意地方的局部放大圖,也可以全圖觀察??苫乜慈魏我粋€顆粒。
● 一鍵流程化設計。
● 圖像標定:根據光學放大倍數定標圖像,為圖像測量提供測量基準。
● 動態設定分析閾值:為以后全圖分析提供提取目標的依據。
● 標準自定義加入:內置ISO16232/VDA19標準,用戶可以根據需要加入不同的分析標準,或選擇已有標準進行分析。軟件支持現行多種標準進行分析。金屬、非金屬、纖維區分,按照ISO16232/VDA19等國際標準統計分析。
● 自動檢測分辨出微粒類型(金屬、非金屬、纖維)
● 評價參數(長度、寬帶、面積、纖維長度)
● 根據不同的測量任務分別來設置和儲存相應的配置
● 方便導出所有分析數據到EXCEL至數據庫
● 按照標準ISO 16232 計算工件清潔度代碼(CCC)
● 有效微粒處理(例如重疊微粒),掃描結果可手動修改,可切分或關聯任意形狀的顆粒。

4、操作性能
4.1、操作功能界面,簡單明了

導航式檢測流程,使復雜的檢測流程簡單化,檢測人員易上手,智能化檢測,參數一次設置后期無需修改,保證檢測數據的重復性。


 自動清潔度分析系統(顆粒大小分析設備)
4.2、工件信息設置

   支持零件編號,清洗/濾膜/產品數量/污染物重量等參數信息新建和調用


自動清潔度分析系統(顆粒大小分析設備)

4.3、系統校準
只需水平軸校準和像素分辨率校準,無多余復雜選型。無經驗操作人員也可熟練使用。
4.4、自動拍照/無縫圖像拼接/支持跨視野超大顆粒/自動校正偏移/自動校準掃描系統
掃描過程自動拍照、自動保存;進度實時可見,照片信息可存入數據庫,方便查詢;

采用新圖像無縫拼接算法,保證顆粒物原貌,無錯位,同時提供全貌掃描圖,非縮率圖。


自動清潔度分析系統(顆粒大小分析設備)

支持跨視野超大顆粒/自動校正偏移

自動清潔度分析系統(顆粒大小分析設備)


自動校準掃描系統

自動清潔度分析系統(顆粒大小分析設備)

4.5、智能聚焦  

支持多種聚焦模式:智能聚焦(每一張圖像都具有清晰度)、多點聚焦、多幅聚焦模式。采用新的聚焦算法,在試樣不夠平整的情況下也能得到清晰的圖像;


 自動清潔度分析系統(顆粒大小分析設備)


4.6、對目標顆粒ID回溯功能,進一步測量,判斷顆粒屬性,使數據可靠

 自動清潔度分析系統(顆粒大小分析設備)            
4.7、47mm標準濾膜夾具

高精度濾膜夾,5軸CNC加工完成,采用斜口旋轉式設計(其他為螺紋式),可保不平濾紙也可輕松壓平,縮短后續自動掃描時間,并能獲得清晰圖像效果,后期顆粒數據準確。


自動清潔度分析系統(顆粒大小分析設備)

4.8、自動識別金屬顆粒,非金屬顆粒,纖維
系統自動識別顆粒,可以同時檢查出不反光顆粒和反光顆粒(一般為金屬顆粒)、纖維。

自動對三種顆粒進行檢查分類。 支持自定義三種顆粒的區分設置。

自動清潔度分析系統(顆粒大小分析設備)

 
4.9、專業清潔度報告
支持模板化報告生成模式,包含統計數據、評級、濾片全貌圖、顆粒照片等信息。

表中包含全部/ 金屬顆粒分類數據。


5、系統配置
● 日本OLYMPUS BX53M高分辨率光學系統(檢測顆粒≥5um)
● 以優異的成像性能、舒適的操作體驗,為客戶提供高性價比的清潔度檢測解決方案
● 正置式:高穩定度多功能集成式。
● 高分辨率:優化整體和諧消色差設計,從而提高分辨率、色差、色還原性;消除雜光等干擾因素,提供高反差、高襯度、高分辨率的銳利圖象;光學部件鍍膜還具有防霉功能,是ISO14001環保產品。
● 光學系統:HCS和諧的第三代多重色差校正光學系統,對所有光學部件(如鏡筒、物鏡、光學接口等)都進行消色差校正;全面提高顯微鏡的整體和諧性和性能的整體提升。
● 目鏡:放大倍數10倍,目鏡采用大視野平場目鏡,可對屈光度進行校正,三目鏡筒55-75mm可調瞳距。
● 物鏡:高性能平場消色差物鏡(EPI反差增強),鍍膜防霉;可同時用于明場、偏光,放大倍數:50X 100X 可擴展200X 500X 1000X
● 觀察視場:明場、偏光等觀察功能和預留功能位置,功能轉換方便,增減 功能操作簡捷,手動方式進行功能切換
● 分光鏡筒:采用新的分光鏡筒進行目鏡和照相出口的分光切換,分光比例有0/50/100三段.頂置的照相出口確保數碼攝像頭可同時具備高動態及高分辨率的效果.
● 200萬高清數碼攝像頭
   高動態高清圖像采集系統;
   速度快,無滯后現象;
   采用SONY1/1.8英寸大靶面尺寸芯片,全局模式;USB3.0傳輸方式。
   高清晰度。
● 高精度電動掃描載物臺(無縫拼接)XYZ操控手柄及控制箱。
   顯微鏡清潔度系統電動掃描臺;
   有效行程:100 x 75mm;
   精度:+/-0.5 μm
   重復性<± 2μm 
   Z軸分辨率0.02um(與顯微鏡調焦機構設計參數有關)
● 高質量偏振系統,確保在暗場下獲得的成像效果;
● 高穩定性電動同軸調焦系統;采用的電動調焦系統,可設置精細/粗 兩種調焦模式,在濾紙掃描過程中進行實時自動對焦
● 采用定位掃描模式,無需取點設置,重復性好。
● 清潔度顆粒自動分析軟件(依據ISO16232/VDA19等國際標準開發);
   自動掃描,無縫拼接技術,可實現每個顆粒定位回看,保證顆粒無誤判;
   提供全圖瀏覽功能,非縮率圖;
   自動設別金屬非金屬顆粒,并按標準分類,可根據標準設置纖維長寬比/面積比等參數,對纖維精確分類;
   標準化報告模板,包括統計數據,評級,濾膜全貌等。
● 0.01mm校準標尺;
● 47毫米濾紙專用夾具(可重復使用);
● 電腦:DELL OptiPlex 5050 I5-7500  1T硬盤,8G內存,24寸液晶屏幕;
● 顆粒校準塊:圓形、矩形、橢圓(選配)

4、其他輔助配件

清洗液、濾膜、干燥皿、變色硅膠、真空硅脂、稱量皿、不銹鋼鑷子、隔熱手套、無塵布、一次性頭套、一次性手套、護目鏡、工作服

自動清潔度分析系統(顆粒大小分析設備)

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