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ZEISS DotScan光學式掃描探頭

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  • 品牌 蔡司/ZEISS
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更新時間:2022-10-25 18:54:53瀏覽次數:447

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產品簡介

用于采集自由曲面的光學式探頭(測量)特點:1.ZEISSDotScan是測量自由曲面和細微結構的

詳細介紹


 

用于采集自由曲面的光學式探頭(測量)

特點:

  1.ZEISS DotScan是測量自由曲面和細微結構的;

  2.ZEISS DotScan采用色階共聚焦白光探頭,特別適用于測量敏感、柔軟、具反射性或低對比度的表面,因為對于這類表面,

  探針或相機傳感器已超過其能力所及,使用 ZEISS DotScan時,具高反射性的表面如膝關節植入物的金屬部件無須注入造影

  劑,即可進行掃描,因此,使用此探頭也能區分透明上漆表層和其下方的金屬層;

 

 

 


 

用途多樣靈活:

  1.ZEISS DotScan共有三種探頭尺寸,適用于三種不同的測量范圍:10、3和1mm;

  2.探頭可在一次CNC運行期間全自動更換,以適用于不同的表面,或改換其他光學探頭;

  3.關節軸每次可移動2.5度,可將ZEISS DotScan調整到垂直于待測量部件;

  4.由于ZEISS DotScan 1mm的測量角度是+/-30度,因此更大曲率的部件也能測量,再加上探針的操作模式,使得各種材料都能

  毫無問題地從各種角度進行測量;

  5.配合使用轉臺,甚至連4軸的測量工作也難不倒ZEISS DotScan;

 


 

可兼容的三坐標測量機:

 

                              

 

    ZEISS ACCURA            ZEISS O-INSPECT             蔡司PRISMO

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