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　　二次元測(cè)量儀采用非接觸式光學(xué)測(cè)量設(shè)備，可滿足工業(yè)制造的高精度測(cè)量要求，但在長期使用或誤操作的情況下，容易造成設(shè)備的硬件誤差。二次元測(cè)量儀的硬件誤差是由哪些因素造成的?測(cè)量誤差會(huì)影響產(chǎn)品的精度和質(zhì)量，因此避免二次元測(cè)量儀的使用誤差非常重要。二次元測(cè)量儀的硬件誤差主要來源如下:

 

　　1.二次元測(cè)量儀顯微鏡光軸與工作臺(tái)不垂直的誤差。這種誤差源一般可以通過調(diào)整顯微鏡的聚光鏡位置來消除。

 

　　2.二次元測(cè)量儀兩個(gè)工作臺(tái)運(yùn)動(dòng)測(cè)量坐標(biāo)軸相互垂直度引起的誤差。通過調(diào)整兩個(gè)運(yùn)動(dòng)坐標(biāo)軸之間的垂直度，可以減少這個(gè)誤差源的圖像。

 

　　3.二次元測(cè)量儀工作臺(tái)移動(dòng)時(shí)存在的直線度、角擺度等誤差。這種誤差源通常通過檢測(cè)和調(diào)整導(dǎo)軌的垂直度和平行度來解決。

 

　　4.二次元測(cè)量儀光柵計(jì)數(shù)尺的測(cè)量精度或硬件問題引起的誤差，由于光柵計(jì)數(shù)尺本身的問題，可以選擇更換更高精度的光柵計(jì)數(shù)尺來解決。降低二次元測(cè)量儀的硬件誤差，提高設(shè)備的測(cè)量精度，對(duì)工業(yè)制造的產(chǎn)品研發(fā)設(shè)計(jì)和質(zhì)量控制具有重要意義，誤差需要根據(jù)情況進(jìn)行調(diào)整。