FLEX是CRAIC中兼具性和靈活性配置的儀器，它用光復用器Lightswitch把紫外-可見-近紅外光學器件，分光光度計數(shù)字成像及軟件都結(jié)合到一起。通過Lightswitch技術，F(xiàn)LEX保留了大家熟知的CRAIC的易用性，同時能夠進行紫外-可見-近紅外光譜測量，高分辨顯微成像，折射率測量等。

以一個有吸引力的價格為切入點，F(xiàn)LEX分光光度計利用測試技術來測量紫外-可見-近紅外范圍的透射，吸收，反射，輻射和熒光微區(qū)光譜。在獲取顯微光譜的同時，樣品可通過高分辨彩色數(shù)字成像系統(tǒng)或目鏡進行成像。附加功能還包括顯微樣品的折射率及色度測量，及微區(qū)的薄膜厚度測量。

此外，F(xiàn)LEX分光光度計在獲得成像質(zhì)量和光譜的同時，提供了吸引力的價格。

主要特性：

? 紫外-可見-近紅外透射顯微光譜

? 紫外-可見-近紅外透射高分辨成像

? 透射，反射，偏振及熒光顯微分光光度計

? 透射，反射，偏振及熒光顯微成像

? 拉曼分光光度計

? 薄膜厚度測量

? 顯微樣品色度測量

? 結(jié)合rIQ進行折射率測量

? 配備Lightblades技術

? 集成TE制冷CCD陣列探測器以提供超低噪聲和長期穩(wěn)定性

? 樣品溫度的精確控制

? 對樣品上小于一微米區(qū)域的校準和變量測量

? 同時使用目鏡和數(shù)字成像的成像功能

? 搭配Lambdafire光譜，成像控制及分析軟件。

? 專業(yè)的軟件模塊，包括統(tǒng)計分析，光譜數(shù)據(jù)庫，成像分析等

? 易于使用和維護

? 來源于顯微光譜領域?qū)＜?/p>

紫外-可見-近紅外顯微光譜

高性價比顯微分光光度計

該儀器是一個*集成的顯微光譜單元，光譜范圍包括從紫外到可見到近紅外。可同時對采樣孔徑和樣品直接成像從而進行快速精確的測量。20/30 PV搭載Lightblades技術，即便尺寸在亞微米樣品的透射，反射，偏振，熒光光譜FLEX也能測量。CRAIC Technologies也是美國國家標準技術研究所（NIST）可追溯分光光度計標準認可的來源。

拉曼顯微分光光度計

靈活的拉曼顯微分光光度計

當裝配上CRAIC Apollo拉曼光譜儀模塊時，F(xiàn)LEX就具備了拉曼功能，能夠?qū)︼@微樣品進行拉曼測量，共振拉曼測量，以及其它類型的測量。模塊包括激光器，拉曼光譜儀以及能夠收集樣品的高質(zhì)量拉曼光譜的光學接口。

熒光

高靈敏度發(fā)射顯微光譜&成像

對FLEX進行一定配置，可獲得顯微樣品的熒光和冷光光譜和成像。搭載Lightblades技術，光譜范圍擴展到從深紫外到近紅外，并且能夠在同一光譜范圍測量發(fā)射光譜，因此，F(xiàn)LEX是材料科學，生物，地理等學等學科中測量顯微熒光的有力工具。

光譜表面Mapping繪圖

結(jié)合硬件和軟件對具有微觀空間分辨率的樣品進行自動光譜分析，可生成樣品的拉曼光譜的3D繪圖。

紫外-可見-近紅外的顯微成像質(zhì)量

FLEX包括了一個的配有科研級光學器件的紫外-可見-近紅外顯微鏡。可在紫外-可見-近紅外區(qū)域進行高分辨數(shù)字成像。FLEX擁有精良的圖像處理軟件。這使得FLEX在進行透射，反射，偏振和熒光顯微檢測的時候，能夠快速便捷的實時觀測和捕捉圖像。

應用

? 微量物證

? 法醫(yī)化學藥物

? 可疑文件

? 有機發(fā)光器件

? 平板彩色面具

? 半導體膜厚

? MEMS器件

? 表面等離子體共振

? 光子帶隙晶體

? 過程雜質(zhì)檢測

? 蛋白質(zhì)晶體

? 組合化學

支持

CRAIC Technologies為的CRAIC設備提供服務和支持。CRAIC Technologies服務工程師對CRAIC Technologies產(chǎn)品提供的設備修理，維護，培訓和技術支持。