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詳細介紹
- 顯著優勢：
- 光譜儀特征：Flat-field grazing-incidence spectrograph；
- 靈活選擇探測器：Flexible choice of detectors: x-ray CCD-camera or MCP/low-noise CMOS camera system
- 支持模塊化設計匹配不同的實驗場景。
- 狹縫對于信噪比的優化：狹縫的特殊支持和可變的濾波單元。
特點
l 平場掠入射光譜儀
l 波長范圍：極紫外（XUV）光柵 5~90nm，軟X射線（SXR）光柵1~20nm
l 探測器的靈活選擇：X射線CCD攝像機或 MCP / 低噪聲CMOS攝像機系統
l 工作壓力<10-6mbar，可選配用于獨立真空操作的無油泵系統
l 可根據用戶要求定制
【產品規格參數】
SXR+光柵 | SXR 光柵 | XUV 光柵 | ||||
波長，nm | 1-5 | 1-20 | 5-90 | |||
操作模式 | 狹縫 | 無縫 | 無縫 | |||
光源距離，m | 靈活 | 靈活 | 靈活 | |||
波長，nm | 1-5 | 1-10 | 5-20 | 5-30 | 25-60 | 30-90 |
平面場尺寸，nm | 60 | 90 | 90 | 90 | 85 | 110 |
色散，nm/mm | 0.06 | 0.07-0.15 | 0.11-0.21 | 0.23-0.38 | 0.33-0.52 | 0.38-0.68 |
分辨率，nm | ＜0.001 | ＜0.005 | ＜0.008 | ＜0.015 | ＜0.021 | ＜0.026 |
* 其他配置（光譜范圍，狹縫操作等等）可根據要求提供
下圖用highLIGHT SXR+在2.88nm（430eV，過渡1s2-1s2p）處對nitrogen譜線進行發射光譜測量。半高全寬是CCD相機的1.74像素（13μm像素大小），分辨率為1890。受探測器限制的分辨力是3290。（數據由德國哥廷根激光實驗室的K. Mann 博士提供）
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