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hardLIGHT TXS 型 HHG光譜儀、X射線光譜儀

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更新時(shí)間:2022-08-23 12:14:26瀏覽次數(shù):468

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產(chǎn)品簡介

結(jié)構(gòu)特征新型的TXS光譜儀可在HHG光束(高頻光束)、X射線自由電子激光器和臺式X射線激光器上進(jìn)行準(zhǔn)確的光子診斷

詳細(xì)介紹

結(jié)構(gòu)特征
  • 新型的TXS光譜儀可在HHG光束(高頻光束)、X射線自由電子激光器和臺式X射線激光器上進(jìn)行準(zhǔn)確的光子診斷。(HHG beamlines, X-ray freeelectron lasers, and table-top X-ray lasers)
  • 對 X 射線光譜進(jìn)行指紋識別以進(jìn)行在線光束表征,透射光束保持不受干擾,透射率大于 90%,以便進(jìn)一步用于實(shí)驗(yàn)(In von Hamos geometry with high-efficiency backscattering)。
  • 單次可測量2 keV 和 4 keV 之間的光子能量。

TXS06.jpg

通過簡單地將反向散射探針與材料樣品交換,hardLIGHT TXS即可用于X射線發(fā)射光譜測量(XES)。

軟X射線范圍提供了對許多材料的化學(xué)狀態(tài)的高靈敏度通道,例如,在2kV下對硫的研究為電池研究提供了重要的參考。

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X-ray absorption spectroscopy (XAS)at the sulfur K-edge(data courtesy of Dr. W. Malzer, TU Berlin)

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