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狹縫光束分析儀NanoScan 2s Si/3.5/1.8

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更新時間:2022-06-03 12:16:18瀏覽次數:298

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產品簡介

狹縫掃描式小光束輪廓分析儀:矽探測器,3.5mm狹縫,1.8µmNanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其矽探測器,精確捕獲和分析190nm-1100nm的波長

詳細介紹

Ophir
狹縫掃描式小光束輪廓分析儀:矽探測器,3.5mm狹縫,1.8µm NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其矽探測器,精確捕獲和分析190nm-1100nm的波長。該分析儀包括適合於小光束的狹縫尺寸,近實時數據捕獲率,可選的功率測量功能等特徵,且可在連續或kHz脈沖模式下工作,非常適合於對UV,VIS和NIR雷射進行全面分析。
  • 光束尺寸7µm至?2.3mm
  • 功率級範圍為?10nW至?10W
  • USB 2.0介面
  • 包含NanoScan標準或專業軟體
狹縫光束分析儀NanoScan 2s Si/3.5/1.8 主要參數
  • Wavelengths:190-1100nm
  • Beam Sizes:7μm - 2.3mm
  • Interface:USB 2.0
  • Sensor Type:Silicon
  • Compatible Light Sources:CW, Pulsed >25kHz
狹縫掃描式小光束輪廓分析儀狹縫掃描式小光束輪廓分析儀NanoScan 2s Si/3.5/1.8

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