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詳細介紹
- 在設計整體系統縮減至最小尺寸。
- 整合Renishaw的過濾光學鏡組與進階插補技術：可提供超低細分誤差(SDE)、抗汙能力，且能無須使用額外轉接器或獨立介面。
- 低細分誤差(SDE)：意味著更低的速度漣波，對要求平穩速度控制，如掃瞄量測系統等應用，尤其重要。
- 整合先進動態訊號與數位信號處理功能：讀頭可直接輸出數位訊號, 免除額外連接轉換頭或分離式介面的繁瑣， 在循環誤差、抖動和精度等方面均提供同類型產品中的性能。
- 適用於量測要求嚴苛的多種應用方式：可讀取的線性和旋轉光學尺範圍相當寬廣，從低膨脹係數的ZeroMet到高精度的REXM環皆適用。
- 與TONiC系列一樣提供線性和及環型光學尺選擇，讓現有客戶可輕鬆轉換使用VIONiC，並可配合多種光學尺，包括金屬鋼帶尺、殷鋼尺以及環型尺(包括超高精度REXM)等使用。
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