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詳細介紹
- 快速：同時進行線性、傾角、偏轉角、側轉角、水平與垂直真直度量測，以上量測和傳統雷射技術一致。
- 簡單：設定簡便、類似其他干涉量測系統的操作方式。自動方向偵測與圖形化對準可減少人為操作錯誤。
- 安心：直接測量所有誤差，可讓使用者在進行測試時查看結果。
- 性能：獨特光學式側轉角量測系統，能在任何方向進行側轉角量測。
- 直接測試取得定位/角度(pitch,yaw,row)/直度(水平,垂直)誤差參數，可單獨分項檢測與他種系統交叉比對。
- 簡易設定及對焦。
- 採光纖導引先進技術，將雷射源獨立在外，提高量測精度恆定-避免雷射本體熱源干擾長期測試精度飄移。
- ：Z軸roll測試，實踐空間精度21自由度誤差需求。
- 搭配Renishaw三維空間精度誤差補償軟體與ballbar系統，可對西門子840D、發那科31i、32i作空間精度補償。
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