梁生
當前位置:廣東愛佩試驗設備有限公司>>高加速老化試驗箱>> AP-PCT-40PCT耐候老化試驗箱
PCT耐候老化試驗箱,又稱為PCT耐候試驗箱或PCT老化箱,是一種用于模擬產品在高壓力、高溫、高濕度等惡劣環境下性能變化的設備。它廣泛應用于電工、電子產品、元器件、半導體、IC、LCD、磁鐵等材料及產品的可靠性測試,以評估其在高溫、高濕及壓力的氣候環境下的貯存、運輸和使用時的性能。
設備特點:
1.采用進口耐高溫電磁閥雙路結構,上降低了使用故障率。
2.獨立蒸汽發生室,避免蒸汽直接沖擊產品,以免造成產品局部破壞。
3.門鎖省力結構,解決第一代產品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。
4.試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設計(試驗桶內空氣排出)提高壓力穩定性、再現性.
5.超長效實驗運轉時間,長時間實驗機臺運轉1000小時.
6.水位保護,透過試驗室內水位Sensor檢知保護.
7.tank耐壓設計,箱體耐壓力(140℃)2.65kg,符合水壓測試6kg.
8.二段式壓力安全保護裝置,采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置.
9.安全保護排壓鈕,警急安全裝置二段式自動排壓鈕
10.全觸控式控制器,支持U盤導出歷史記錄
四、箱子尺寸
4.1.內箱尺寸 PCT-40(∮400 mm x L500 mm),圓型試驗箱
4.2.外型尺寸(約) 900x 900 x 1500 mm ( W * D * H )
五、性能指標:
1.設定溫度: +105 ℃ ~ +132 ℃( 飽和蒸氣溫度 )
2.濕度范圍: 100 % 蒸氣濕度
3.濕度控制穩定度:±1%RH
4.使用壓力: 1.2~2.89kg(含1atm)
5.時間范圍: 0 Hr ~ 9999 Hr
6.加壓時間: 0.00 Kg ~ 1.04 Kg / cm2 約 45 分
7.溫度波動均勻度 : ±0.5℃
8.溫度顯示精度:0.1℃
9.壓力波動均勻度 : ±0.02Kg
10.濕度分布均度:±5%RH
PCT耐候老化試驗箱的應用范圍廣泛,不僅適用于半導體封裝之濕氣能力測試,也廣泛應用于線路板、多層線路板、IC、LCD、磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性、氣密性等。此外,加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力(如溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產品或系統的壽命試驗時間。
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