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標準型白光干涉儀使用說明書下載

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  • 型號 1201
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更新時間:2021-11-27 16:21:52瀏覽次數:546

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產品簡介

編號:1201 SWIM系列掃描白光干涉儀結合Carmar公司的相移垂直掃描的技術與顯微光干涉技術,不需要復雜光路調整程序,即可在非接觸、無破壞、普通大氣環境下完成3D奈米深度的表面檢測分析,不僅提供3D表面形狀和表面紋理的分析,更可提供鏡面表面的奈米級粗糙度和臺階高度分析, 并追溯至ISO國際規范。

詳細介紹

奈米深度3D形狀顯微檢測儀 1510MSSWIM白光干涉儀使用說明書下載

1. 奈米深度3D檢測
2. 高速/無接觸量測
3. 表面形狀/粗糙度分析
4. 非透明/透明材質適用
5. 非電子束/非雷射的安全量測

奈米3D顯微形貌快速呈現

SWIM系列掃描白光干涉儀結合Carmar公司的相移垂直掃描的技術與顯微光干涉技術,不需要復雜光路調整程序,即可在非接觸、無破壞、普通大氣環境下完成3D奈米深度的表面檢測分析,不僅提供3D表面形狀和表面紋理的分析,更可提供鏡面表面的奈米級粗糙度和臺階高度分析, 并追溯至ISO國際規范。

SWIM系列掃描白光干涉儀結合Carmar公司的相移垂直掃描的技術與顯微光干涉技術,不需要復雜光路調整程序,即可在非接觸、無破壞、普通大氣環境下完成3D奈米深度的表面檢測分析,不僅提供3D表面形狀和表面紋理的分析,更可提供鏡面表面的奈米級粗糙度和臺階高度分析, 并追溯至ISO國際規范。

SWIM系列掃描白光干涉顯微檢測儀,具有*的測量能力,可在幾秒內就完成整個視場的掃描,得到測量樣品的3D圖形與高度數據,檢測速度與深度量測能力優于逐點逐面掃描的共焦掃描顯微鏡,3D圖形量測能力又優于掃描式電子顯微鏡的2D平面檢測能力,且不需要使用電子束或雷射,開機快又安全。

無論是拋光面,還是粗糙面,甚至是透明材質,只要有超過1%以上的反射率就能夠被檢測。 SWIM系列顯微檢測儀適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測,應用領域包含:

1. 玻璃鏡片

2. 鍍膜表面

3. 晶圓(Wafer)

4. 光盤/硬盤(DVD Disk/Hard Disk)

5. 微機電組件 (MEMS Components)

6. 平面液晶顯示器(LCD)

7. 高密度線路印刷電路板( HDI PCB )

8. IC封裝( IC Package)

9. 精密微機械組件(Micro Mechanical Parts)

10. LED基板表面微圖案結購 (LED Subtract Micro-pattern)

11. 以及其它材料分析與組件微表面研究。

相移垂直掃描技術,使深度分辨率達0.1nm
SWIM系列顯微檢測儀提供Z軸掃描分辨率0.1nm,平面空間分辨力0.61nm(50X物鏡)的量測能力,達12μm/s的垂直掃描速度,所具有的奈米3D顯微形貌快速呈現能力是科研、研發、生產品檢時所的工具。

機臺規格 (以下為標準機臺規格, 另可依客戶需求增加電動平臺或自動對焦模塊)

型號

標準型 SWIM 1510MS

顯示器主架構

顯微鏡本體1X

物鏡放大倍率

10X

20X

50X

觀察與量測范圍 長X 寬 mm

0.43 X 0.32

0.21 X 0.16

0.088 X 0.066

光學分辨率 (mm)

1.12

0.84

0.61

工作距離 (mm)

7.4

4.7

3.4

量測用光學系統

白光干涉顯微光學系統

高度測量

測量范圍

100 mm ( 400 mm, 選配)

量測分辨率

0.1 nm

重復精度(σ) (1)

≦ 0.1 % ( 量測高度: > 10 m m) ≦ 10 nm ( 量測高度:1 m m ~ 10 m m) ≦ 5 nm ( 量測高度: <1 m m )

量測控制

自動

掃瞄速度 (mm /s)

12 ()

觀察與量測用光源

光源類型

儀器用鹵素光源

平均使用壽命

1000小時

光強度調整

自動 /手動

取像單元

影像傳感器

黑白 CCD數位攝像機

傳感器分辨率

640 x 480 像素

樣品移動平臺

觀察移動平臺

行程

150 mm x 100 mm, 手動

載重

大于 10 kg

Z 軸移動范圍

80 mm,手動

位置數字顯示單元

三軸光學尺與三軸數字顯示器 (分辨率1 mm)

傾斜調整平臺

手動

底座

花崗巖

數據處理與顯示用計算機

處理運算單元

雙核心CPU

影像與數據顯示屏幕

17" 液晶屏幕

存儲裝置

160 GB 以上硬盤機

操作系統

WindowsXP (2)

電源

AC110V /220V ,50Hz /60Hz
重量
約150 kg (含花崗巖底座)
分析軟件
WindowsXP 兼容的影像擷取與分析軟件, 包含 ISO 粗糙度/階高分析,快速傅利葉轉換和濾波, 多樣的 2D和 3D 觀測視角圖, 外形/面積/體積分析, 圖像縮放, 標準影像檔案格式轉換, 報表輸出等等。
階高標準片(選配)
提供 50 nm-- 150 mm 多種規格

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