詳細介紹 日本KETT電磁膜厚計 370系列測量方式電磁式渦流式探頭型號LEP-J(Fe)LHP-J(NFe)測量對象磁性金屬(鐵、鋼)上非磁性涂鍍層非磁性金屬(非鐵)上的絕緣層測量范圍0~2500um(99mils)0~1200um(47mils)測量精度<50um:±1um; 50~1000um:±2%; >1000um:±3%分辨率<100um:0.1um; >1000um:±1um存儲數據約3000個預存通道電磁式和渦流式各50個,共計100個顯示方式LCD數顯數據輸出連接電腦或打印機電源5#電池×4個消費電量80mW(不使用背光狀態下)電池壽命100小時(不使用背光狀態下連續使用的情況下)室溫要求0~40℃外形尺寸主機:75(W)×145(D)×31(H), 340g標準配置鐵基體,鋁基體,標準片,V型塊,主機皮套,電池×4個,使用說明書可選附件標準片,專用臺架,軟件,數據線,探頭
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