詳細介紹 日本KETT電磁膜厚計 370系列測量方式電磁式渦流式探頭型號LEP-J(Fe)LHP-J(NFe)測量對象磁性金屬（鐵、鋼）上非磁性涂鍍層非磁性金屬（非鐵）上的絕緣層測量范圍0～2500um(99mils)0～1200um(47mils)測量精度<50um:±1um; 50～1000um:±2%; >1000um:±3%分辨率<100um:0.1um; >1000um:±1um存儲數據約3000個預存通道電磁式和渦流式各50個，共計100個顯示方式LCD數顯數據輸出連接電腦或打印機電源5#電池×4個消費電量80mW(不使用背光狀態下）電池壽命100小時(不使用背光狀態下連續使用的情況下）室溫要求0～40℃外形尺寸主機：75（W)×145(D)×31(H), 340g標準配置鐵基體，鋁基體，標準片，V型塊，主機皮套，電池×4個，使用說明書可選附件標準片，專用臺架，軟件，數據線，探頭
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