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詳細介紹
KMM-300倒置金相顯微鏡
■ 使用專業的金相物鏡及平場目鏡，成像質量好，分辨率高，觀察舒適
■ 提供*的圖像質量和穩固可靠的機械結構.
■ 選配相應的攝影攝像附件，可對觀察圖像進行采集和保存，配電腦和專業金相
分析軟件圖像進行金相圖像分析
■ 操作簡便，附件齊全，廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地
址礦物分析、精密工程測量等領域。
KMM-300倒置金相顯微鏡技術規格：
| 光學系統 | 有限遠色差校正系統 |
| 觀察筒 | 鉸鏈式三目，45°傾斜，雙邊±5屈光度可調，瞳距調節范圍：54-75mm，固定式分光比，雙目:三目=80%:20% |
| 目鏡 | 高眼點大視野平場目鏡PL10X/18mm |
| 高眼點大視野目鏡WF15X/13 | |
| 高眼點大視野目鏡WF20X/10mm (加配12.5X目鏡) | |
| 金相物鏡 | 長工作距平場消色差專業金相物鏡5X，10X，20X，50X、100X |
| 轉換器 | 內定位四孔轉換器 |
| 內定位五孔轉換器 | |
| 調焦機構 | 低手位粗微調同軸調焦機構，粗動每轉行程38 mm；微調精度2um，帶松緊調節機構 |
| 載物臺 | 三層機械移動平臺，面積180mmX155mm，右手低手位控制，行程:75mm×40mm;金屬載物臺板，中心孔直徑φ12mm |
| 照明系統 | 反射式柯拉照明，帶可變孔徑光闌和中心可調視場光闌，自適應90V-240V寬電壓 6V30W鹵素燈（可選配單顆3W LED燈），光強連續可調 |
| 偏光裝置 | 起偏鏡和檢偏鏡均可移出光路，檢偏鏡插板可360°旋轉 |
| 攝影裝置 | 攝影接筒（帶PK卡口），3.2X攝影目鏡 |
| 攝像裝置 | 0.5X/1.0X C型攝像接筒 |
系統組成
| 圖 像 處 理 系 統 | （300、500萬像素） ◆傳感器類型 CMOS（彩色） ◆接口 USB2.0 ◆傳感器廠商 MICRON ◆快門類型 線陣 ◆光學尺寸 1/2英寸 ◆有效像素 2048(H)×1536(V) ◆有效像素尺寸 6.55mm(H)×4.92mm(V) ◆像素尺寸 3.2μm(H)×3.2μm(V) ◆感應度 1.0V/Lux-sec（550nm） ◆顏色排列 RGB ◆鏡頭卡口 C卡口（不附鏡頭） ◆幀頻 6fps ◆快門速度 1/9760-6.71（秒） ◆電源 USB端口 |
| 專業定量金相圖像分析計算機操作系統(軟件)簡介: | 金相圖像分析系統配置的“專業定量金相圖像分析計算機操作系統(SRMAS軟件)”對采集的試樣圖譜進行處理和實時比對、檢測、評級、分析、統計及輸出圖文報告。軟件融合了當今的圖像分析技術，為金相顯微鏡和智能分析技術的結合，系統測量、評定結果快速、正確，符合國標(GB) 和其它相關行業標準 (JB/YB/HB/QC/DL/DJ/ASTM 等)。系統全部中文界面 (也可以選擇英文版本)，簡潔明了和操作方便，經過簡單培訓或對照使用說明書，就可自如操作。并為學習金相常識和普及操作提供了快捷方法。 系統包括如下主要功能： ◇圖像編輯軟件：圖像采集，圖像存儲等十多種功能； ◇圖像軟件：影像增強，圖像疊加等十多種功能； ◇圖像測量軟件：周長、面積、百分含量等幾十種測量功能； ◇輸出方式：數據表格方式輸出，直方圖輸出，圖像打印輸出。 專用金相軟件包： ◇晶粒度測量評級（晶界提取，晶界重建、單相、雙相、晶粒度測量、評級）； ◇非金屬夾雜物測量、評級（其中包括硫化物、氧化物、硅酸鹽等）； ◇珠光體、鐵素含量測量、評級；球墨鑄鐵石墨球化率測量評級； ◇脫碳層、滲碳層測量，表面涂層厚度測量； ◇鐵素體、奧氏體型不銹鋼中相-面積測量； ◇高硅鋁合金初晶硅與共晶硅分析； ◇鈦合金材料分析……等； ◇包含進行比對的近438種常用金屬材料的金相圖譜，適應絕大多數單位金相分析和檢驗的要求； ◇鑒于新材料和進口牌號材料的不斷增加，對于軟件中尚未錄入的材料及評定標準，可以度身定制和錄入。 |
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