日本日置阻抗分析儀IM7583
高速、高穩定性測量，提高生產量！測量時間：快0.5ms
● 測量頻率：1MHz~600MHz
● 測量時間：快0.5ms（模擬測量時間）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 緊湊主機僅機架一半大小，測試頭僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
● 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
基本參數
日本日置阻抗分析儀IM7583
高速、高穩定性測量，提高生產量！測量時間：快0.5ms
● 測量頻率：1MHz~600MHz
● 測量時間：快0.5ms（模擬測量時間）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 緊湊主機僅機架一半大小，測試頭僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
● 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
基本參數（精度保證時間1年，調整后精度保證時間1年）
測量模式 LCR（LCR測量），分析（掃頻測量），連續測量
測量參數 Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
精度保證范圍 100 mΩ~5 kΩ
顯示范圍 Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)
θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
基本精度 Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38°
測量頻率 1 MHz~600 MHz (設置分辨率100kHz)
測量信號電平 功率 (dbm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm
電壓 (V)模式: 4 mV~502 mVrms
電流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02 mArms
輸出阻抗 50 Ω (10 MHz時)
顯示 彩色TFT8.4英寸、觸屏
測量時間 快0.5ms（FAST、模擬測量時間、代表值）
功能 接觸檢查、比較器、BIN判定（分類功能）、面板讀取·保存、存儲功能、等效電路分析、相關補償
接口 EXT I/O (處理器), USB通訊, U盤, LAN
RS-232C (選件), GP-IB (選件)
電源 AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
體積和重量 主機: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg
測試頭: 90W × 64H × 24D mm, 300 g
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