斷層掃描分析

METROTOM系統(tǒng)

原本不能檢測或者非常耗時的和高成本的工件檢測，現(xiàn)在可以用斷層掃描分析技術快速明確地檢測出誤差。

測量技術的革命
Metrotom融合了計量學和層析X射線攝影法，開創(chuàng)了不可預期的可能性。此前只能通過損傷工件進行檢測或者無法進行質量保證檢測的場合，現(xiàn)在使用蔡司的Metrotom就可以幫忙您實現(xiàn)無損檢測并保證高精度的測量結果。
斷層掃描分析如同在工件內部測量：所有采集的數(shù)據(jù)可用于質量保證的范圍和進行評估。無損檢測技術，例如：裝配檢查，損傷和氣孔分析，材料檢驗或損壞檢查，如同傳統(tǒng)的測量評估，逆向工程應用或幾何比較一樣可行。
重要特征
METROTOM采用了深思熟慮的設計，它的3D計算機斷層掃描分析帶有微聚焦X射線管和探測器，同時還裝備了用于裝夾工件的轉臺和移動系統(tǒng)。METROTOM還具有安全技術，其全防護的測量間，符合DIN 54113標準的用于結構類型許可全封閉儀器的防護射線條例(0.5mr/h外罩)。同時，它也提供了符合人體工程學的優(yōu)化設計（特設的上料位置）。

業(yè)界驗證的線性技術

• 蔡司的精密機械組件
• 導軌誤差補償（CAA計算機輔助精度修正）
• 蔡司原裝轉臺，配有直接驅動
• 自產的氣浮軸承
• 分辨率：0.036?
• 大負載（中心）：500N

傳感器：微聚焦X射線管

• 高電壓：10 – 225 keV
• 電子管電流：5 – 3000 μA
• 目標功率：320 W max.
• 反射角：50°錐角
• 速流發(fā)射角：30°錐角
• 焦點尺寸：> 7 μm平板式探測器
• 帶有高敏感性的探測系統(tǒng)
• 1024 x 1024 像素每 400 μm²用于三維CT
• 數(shù)字式放射性檢測法，低失真率