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詳細介紹
產品描述
德國Fischer X射線熒光測量儀用于金銀合金快速無損分析及鍍層厚度測量，菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220是一種優化的X射線熒光測量儀器，用于珠寶、硬幣和貴金屬的無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。在氯（17）到鈾（92）范圍內可同時測定多達24種元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。
產品特點：
? 菲希爾XAN220型X射線金屬材料分析儀為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優化設計；? 配備固定的準直器和基本慮片，特別適用于貴金屬分析
? 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，適用于更復雜的多元素分析
? 由下*的測量方向，可以*簡便地實現樣品定位
典型應用領域包括：
? 珠寶、貴金屬和牙科合金? 黃白色
? 鉑和銀
? 銠
? 合金和涂層分析
? 多層涂層分析
| 預期用途 | 能量色散X射線測量儀（ED XRF）用于分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。 |
| 元素范圍 | 硫S（16）至鈾U（92）–同時多達24種元素 |
| 重復性 | 對于金≤0.5‰，測量時間60秒 |
| 設計 | 臺式單元，帶有向上打開的罩 |
| 測量方向 | 自下而上 |
| X射線管 | 帶鈹窗的微焦點鎢管 |
| 高電壓 | 3 steps：30 kV，40 kV，50 kV;*大陽極電流：1 mA |
| 光圈（準直儀） | ? 1 mm (39 mils), 可選? 2 mm (79 mils) or ? 0.6 mm (23.6 mils) |
| 測量點 | ? 1.2 mm (47 mils) with aperture ? 1 mm (39 mils)平放樣品（測量距離0毫米） |
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