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詳細介紹
特性：
- X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測量任務
- 由于測量距離可以調節（.大可達 80 mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件
- 通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸（可選）實現自動化的批量測試
- 使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器，非常適用于測量超薄鍍層（XDAL 設備）
應用：
鍍層厚度測量
- 大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
- 電路板上較薄的導電層和/或隔離層
- 復雜幾何形狀產品上的鍍層
- 鉻鍍層，如經過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
- 氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質涂層厚度測量
材料分析
- 電鍍槽液分析
- 電子和半導體行業中的功能性鍍層分析
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