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菲希爾Fischer XDV-SDD臺式X射線熒光涂層測厚儀

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  • 品牌 菲希爾/Fischer
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更新時間:2020-08-07 20:59:15瀏覽次數:437

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產品簡介

菲希爾Fischer XDV-SDD臺式X射線熒光涂層測厚儀 XDV-SDD型儀器是FISCHER產品中性能.強大的X射線熒光儀器之一。它配備了特別加大的硅漂移探測器(SDD)。50mm的探測器窗口確保能快速而精確地測量甚至是小面積的測量點。此外,儀器還配備了各種不同的濾波片,從而能為不同的測量任務建立.優化的激發條件。

詳細介紹

特點:

  • 配備了高性能的X射線管和大窗口的硅漂移探測器(SDD),能高精度地測量.薄的鍍層
  • 極耐用的設計結構,能以極出色的*穩定性用于連續測量
  • 可編程XY平臺和Z軸,用于自動化連續測量
  • 擁有實時的視頻顯示和輔助激光點,使得樣品定位變得快速而簡便

應用:

鍍層厚度測量

  • 測量極薄鍍層,如電子和半導體產業中厚度小于0.1um的Au和Pd鍍層
  • 測量汽車制造業中的硬質涂層
  • 光伏產業中的鍍層厚度測量

材料分析

  • 電子、包裝和消費品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令對有害物質(如重金屬)進行鑒別
  • 分析和其他貴金屬及其合金
  • 測定功能性鍍層的組分,如NiP鍍層中的P含量

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