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詳細介紹
包含測量臺的緊湊型設計。 - 傳感器配有根據阿貝原理的同軸測量系統或相對于測高儀軸使用偏移探頭。 測量具有扁平，平行或圓柱形表面的幾何元素上的內部，外部，高度，深度，步距和距離尺寸。 - 自動檢測孔或軸上的頂點。 - 使用記憶功能“.大”，“.小”和“.大.小”進行動態探測。 根據所選擇的工具配置，整個系統提供了測量直線度，平直度和平行度或檢查軸向和徑向跳動的.佳解決方案。
• 控制面板
- 可防護液體和灰塵的侵害
- 1D改進的面板，易于操作且不會混淆
- 兼容2D面板，用于訪問超越在1D模式下簡單測量的功能
• 測量
- 適合在生產線旁測量小零件
- 高精度
- 低的可調觸發力，可測量更廣泛的材料
- 清晰的結果能減少因顯示結果不正確理解導致錯誤的可能性
• 立柱
- 所需空間.小化，緊湊化測量接近生產線
• SCS 校準證書
- 免費附帶的SCS校準證書節省了初始購買后的額外重新校準的成本
• 控制面板
- 可防護液體和灰塵的侵害
- 1D改進的面板，易于操作且不會混淆
- 兼容2D面板，用于訪問超越在1D模式下簡單測量的功能
• 測量
- 適合在生產線旁測量小零件
- 高精度
- 低的可調觸發力，可測量更廣泛的材料
- 清晰的結果能減少因顯示結果不正確理解導致錯誤的可能性
• 立柱
- 所需空間.小化，緊湊化測量接近生產線
• SCS 校準證書
- 免費附帶的SCS校準證書節省了初始購買后的額外重新校準的成本
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不改變探測方向的測量
無需測頭常數
無需測頭常數
不改變探測方向的測量
無需測頭常數
無需測頭常數
改變探測方向的測量
需測頭常數
不考慮拐點測量
需測頭常數
不考慮拐點測量
改變探測方向的測量
需測頭常數
考慮拐點測量
需測頭常數
考慮拐點測量
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