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詳細介紹
儀器用途
適用于檢測PCB內、外層蝕刻后線路的上幅及下幅寬度、線間距離、孔到邊線距離，以及圓孔、盲孔、弧的直徑等，并適用于IC晶片、薄膜和LCD等線寬線距的測量。
儀器特點
1.快速軟體測量功能：框選被測線寬區(qū)域后自動確定線邊界，輸出線寬值，判斷NG/OK，并同時輸出被測項目數據報表。同時具備SPC統(tǒng)計分析功能。
規(guī)格參數
項目 主要技術參數 型號 YX-XK25 測量精度 3x以上精度±1mm，2x精度±2mm，1x精度±3mm 放大倍率 光學放大倍率1.4x~9x連續(xù)可調，影像放大倍率70x~450x 可測板寬 ≤760mm 可測線寬 20mm~120mm 分辨率 0.4μm~2.7μm/pixel 視野范圍 0.53mm x 0.4mm~ 3.3mm x 2.5mm 外形尺寸 960mmx760mmx1260mm 重量 150KG
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