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Prisma E環境掃描電鏡

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更新時間:2023-06-05 13:39:22瀏覽次數:448

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產品簡介

產品編號: 所屬品牌: 賽默飛FEI產品型號: 額定功率:按實際方案提供所屬類別: FEI電鏡SEM所屬用途: 尺寸測量應用領域: 非金屬產品特性: 下載相關資料

詳細介紹

產品參數

產品編號: 所屬品牌: 賽默飛FEI
產品型號: 額定功率:按實際方案提供
所屬類別: FEI電鏡SEM所屬用途: 尺寸測量
應用領域: 非金屬
產品特性:
下載相關資料

Prisma E環境掃描電鏡

具有環境功能的掃描電鏡,適用于工業研究和開發

環境掃描電鏡

Thermo Scientific Prisma E SEM掃描電鏡結合了廣泛的成像和分析模式以及*自動化功能,和同類儀器相比,可提供最完整的掃描電鏡分析解決方案。對于工業研發、質量控制和失效分析應用領域,需要一臺具有高分辨成像,廣泛的樣品兼容性,簡單易用的用戶界面的掃描電鏡,Prisma E環境掃描電鏡是這類應用的理想選擇。Prisma E環境掃描電鏡是在前代Quanta SEM掃描電鏡基礎上的又一次成功實踐。

強大的附近擴展能力,以及結合Thermo Scientific ChemiSEM 技術所實現直觀的元素分析能力,使Prisma E在任何行業或領域都能夠實現微米/亞微米級成像和分析。

Prisma E環境掃描電鏡的主要特點

觸手可及的元素信息

通過選配 ChemiSEM 技術和集成能量色散 X 射線光譜(EDS)進行實時成分面分布以實現直觀元素分析。這種始終在線的分析能力可很大提高您的工作效率,并獲取完整的樣品信息。

大限度地減少樣品制備時間

低真空和ESEM環境掃描電鏡功能可對非導電和/或含水樣品進行無電荷/或無脫水成像和分析。

優異的分析能力

倉室支持至多安裝3 個 EDS 探測器,其中兩個EDS接口呈180°對稱,并可安裝波長色散光譜 (WDS)、共面 EDS/EBSD,并可在低真空模式下實現高質量無電荷 EDS 和 EBSD 分析。

優秀的圖像質量

靈活的真空模式以及通過透鏡抽真空技術,使Prisma E環境掃描電鏡可在低電壓和低真空下獲得優秀的圖像質量。且在每個操作模式下,都可實現二級電子 (SE) 和背散射電子 (BSE) 同時成像。

對自然狀態下的材料進行原位研究

憑借 Prisma E的環境掃描電鏡 (ESEM) 模式、可在樣品加熱、放氣或潮濕的狀態下直接成像。

易于使用

Prisma E環境掃描電鏡相關操作軟件具有用戶指南和撤消功能,可以使新手用戶進行操作,也可很大減少專家級用戶的操作負荷。

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