三豐表面粗糙度測量儀SV-C3200S4功能
• 高分辨力型Z1軸檢出器作為標準件提供。Z1軸的顯示分辨力為0.0001μm(測量范圍為8μm時)。
• X軸內置高精度玻璃光柵尺，直接讀取X軸移動距離，在高精度精 準定位下，完成間距參數的評價。
• 檢出器測力有4mN和0.75mN可選。輪廓測量功能
• Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡，以實現高精度和高分辨力。與傳統型號相比，新測臂使Z1軸測量范圍增 大了10mm 同時減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性鏈接件，單此接觸就能完成測臂的裝卸，提高了易用性。
• 專為SV-C-4500系列增加了以下兩大特性作為輪廓測量系統的專用功能。
(1) 裝配雙錐面測針，實現垂直方向(上/下)連續測量，所獲取的數據實現簡單分析以往難以測量的內螺紋有 效直徑。
(2) 測力可在FORMTRACEPAK軟件中設置。無需調整配重。
• 表面粗糙度/輪廓FORMTRACEPAK分析程序，通過簡單的操作就能進行高 級分析并即刻輸出結果。
• 表面粗糙度測試儀和輪廓測量儀結合在一起，節省安裝空間。

SV-C3200技術規格2