寶石顯微鏡 適合珠寶店鑒定、教學用、鑒定愛好者，寶石顯微的寶石鑒定儀器，在珠寶鑒定中用于觀察樣品的內含物和表面特征等肉眼無法觀察的現象，是合成品、優化處理品和人造品的鑒定*的寶石鑒定儀器。

顯微鏡的主要用途：

檢查寶石表面特征：寶石的生長紋、蝕像、劃痕、破損、對稱性、拼合面（氣泡、光澤差異）等

觀察寶石內部特征：內含物的種類、形態、數量、雙晶面、生長紋、顏色分布特點、初始解理、缺陷等

觀察寶石刻面棱重影：雙折射率大的寶石，如鋯石（DR=0.059）、橄欖石（DR=0.036）電氣石（DR=0.078） 等寶石的刻面棱重影現象

近視折射率的測定：使用貝克線法、柏拉圖法或直接測量法，對折射率值超過折射儀測量范圍的寶石，進行近視折射率值的測試

吸收光譜的觀察：以分光鏡代替鏡，并使用透射照明來檢測寶石的光譜特征

偏光檢測：添加上下偏振片檢查寶石的消光情況和進行多色性觀察干涉圖觀察：使上下偏振片正交，用物臺下的聚光鏡提供的收斂光或加錐光鏡，可檢查寶石的干涉圖，進行寶石軸性分析

顯微照相：在目鏡上裝一照相機，可直接拍下寶石中所觀測到的現象，以提供一性照相記錄

其他用途：利用旋轉臺或分度臺進行寶石晶面夾角測量等

技術參數