自適應照明設置

能夠實現在不同觀察方法之間的輕松切換：選擇一個特定的觀察模式，不到一秒鐘，所有元件均將轉移至光路中。此外，顯微鏡將自動修改照明設置、亮度以及光闌位置，使之適用于該觀察模式。此外，Leica DM6 M 將自動調節齊焦性。無需耗費時間調節——輕松讓系統為您效勞。這種超級簡便的操作模式，能夠確保無論是誰在操作顯微鏡，都能夠避免出錯，且確保**的可再現性。

易于對反光表面進行聚焦

一般情況下,像晶圓或鋁合金等這類材質,經過打磨的,反光和非結構表面 是很難聚焦的.利用徠卡的尋焦器,能夠確保樣本易于成像,并在上述表面聚 焦,同時不存在損壞樣本或物鏡的風險.

所有設置,一目了然

Leica DM4 M 顯示屏布局清晰,顯微鏡和照相機的所有當 前設置都可以在顯示屏中一覽無余.Leica DM6 M 配備高分 辨率的觸摸屏,您可以通過該控制單元,輕松實現所有電 動,編碼控制的功能.它具有用戶友好和直觀的優勢,由 于易操作,儀器狀態信息清晰可見,從而縮短了用戶的培 訓時間.

高分辨率暗場 (HDF)，為您呈現更多細節

在很多行業應用領域中，暗場照明是一項基本的觀察方法：它會對樣本進行定位，并突出顯示樣本暗處的缺陷。在金相學中，由于暗場照明會突出顯示劃痕處，因此，您可以通過暗場照明來判斷拋光工藝的質量。在微電子應用領域，它還提供*不同的圖像，便于您發現缺陷。如今，徠卡顯微鏡系統新增的高分辨率暗場 HDF 功能具備更多的觀察方法，即使再小的結構也能清晰可見。對比常規暗場物鏡，徠卡的暗場物鏡的工作距離明顯增加。這樣能夠保護樣本和前置透鏡，并達到保護儀器的目的。

擁有專業知識的軟件 

使用 Leica Steel Expert Module 能夠根據標準，**評定鋼中夾雜物的等級。利用 Leica Cleanliness Expert Module 可依據水平和垂直規格進行自動化的顆粒分析，并獲得更多信息，比如金屬和非金屬比例。Leica Phase Expert 支持**測量多相微觀結構，同時 Leica Grain Expert 會進行晶粒大小分析技術的綜合篩選，從而進行材料研究和冶金學分析。