我們專注于橫向干涉測量法，它是敏感的光纖測量技術。因為測量是橫向執(zhí)行（通過光纖的端口），所以它從本質上是無損檢測。雖然光纖的高分子涂層或者緩沖區(qū)必須被去除，光纖本身仍然可以繼續(xù)傳輸測量中的光信號，同時如果必要的話那些高分子涂層在光纖測量之后可以被*恢復。光纖折射率分析儀可以對光纖樣品進行單波長、多波長的1D、2D測量，獲得任何類型光纖的折射率、應力和幾何形狀數(shù)據(jù)。

產品特點

• 多波長
• 無劈開要求
• 亞微米空間分辨率
• 適用于任何形式光纖
• 快速測量
• 可測量接頭、錐度、耦合器

可選項

• 測量在紅外范圍內的特定波長(900nm到2000nm)，需要選擇IFA-100-IR版。
• 多波長測量500nm～1000nm范圍內選擇，需要購買IFA-100-MW選項。
• 多波長測量900nm～2000nm范圍內選擇，需要使用IFA-100-IR版本和購買IFA-100-MW選項。
• 測量直徑超過420μm的光纖，需要購買IFA-100-LD選項。
• 基于光纖雙折射測量特種光纖的殘余軸向熱應力的能力，需要購買IFA-100-STRESS選項。
• 基于光纖雙折射對特種光纖的殘余軸向熱應力的2D測量能力，需要購買IFA-100-STRESS和IFA-100-ROT選項。
• 鐿摻雜2D空間分布的測量，需要購買IFM-100-SEM和IFA-100-ROT選項。
• 鉺、銩、鈥摻雜2D空間分布的測量，需要使用IFA-100-IR和購買IFM-100-SEM和IFA-100-ROT選項。