一、武漢高低溫沖擊試驗箱測試箱制冷工作原理

   高低制冷循環(huán)均采用逆卡若循環(huán)，該循環(huán)由兩個等溫過程和兩個絕熱過程組成。其過程如下：制冷劑經(jīng)壓縮機絕熱壓縮到較高的壓力，消耗了功使排氣溫度升高，之后制冷劑經(jīng)冷凝器等溫地和四周介質(zhì)進行熱交換，將熱量傳給四周介質(zhì)。后制冷劑經(jīng)閥絕熱膨脹做功，這時制冷劑溫度降低。zui后制冷劑通過蒸發(fā)器等溫地從溫度較高的物體吸熱，使被冷卻物體溫度降低。此循環(huán)周而復(fù)始從而達到降溫之目的。

 二、武漢高低溫沖擊試驗箱測試箱產(chǎn)品用途

   冷熱沖擊試驗機適用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA基扳、電子芯片、IC半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密IC到重機械的組件，無一不需要它，是理想測試工具.冷熱沖擊試驗機，用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，可作為其產(chǎn)品改進的依據(jù)或參考。

三、產(chǎn)品特點

1.冷熱沖擊試驗箱外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝*、選材考究，具有簡單便利的操作性能和可靠的設(shè)備性能。

2.設(shè)備分為高溫箱,低溫箱,測試箱三部分,采*之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗時待測物*靜止，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷,熱溫度導(dǎo)入測試區(qū)實現(xiàn)冷熱沖擊測試目的.

3.采用*的計測裝置,控制器采用大型彩色液晶人機觸控對話式LCD人機接口控制器,操作簡單,學(xué)習(xí)容易,穩(wěn)定可靠,中，英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。

4.具有100個試驗規(guī)范獨立設(shè)定,沖擊時間999小時59<分鐘,循環(huán)周期1~999次可設(shè)定,可實現(xiàn)制冷機自動運轉(zhuǎn)，zui大程度上實現(xiàn)自動化，減輕操作人員工作量，可在任意時間自動啟動﹑停止工作運行;箱體左側(cè)有一直徑50mm之測試孔，可供外加電源負(fù)載配線測試部件。

5.可獨立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時,可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖進行沖擊之功能，具備高低溫試驗機的功能。>可獨力當(dāng)作高溫箱或低溫箱使用,一機三用。

6.具備全自動，高精密系統(tǒng)回路、任一機件動作，*有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動演算控制,溫度控制精度高。

7.*科學(xué)的空氣流通循環(huán)設(shè)計，使室內(nèi)溫度均勻，避免任何死角;完備的安全保護裝置，避免了任何可能發(fā)生安全隱患，保證設(shè)備的*可靠性。

8.可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動(手動)除霜。

9.出風(fēng)口于回風(fēng)口感知器檢測控制，風(fēng)門機構(gòu)切換時間為10秒內(nèi)完成，冷熱沖擊溫度恢復(fù)時間為5分鐘內(nèi)完成。

10.運轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線顯示,發(fā)生異常狀況時,螢?zāi)簧霞纯套詣语@示故障點及原因和提供排除故障的方法,并于發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時,具有緊急停機裝置。

11.冷凍系統(tǒng)采用復(fù)疊高效低溫回路系統(tǒng)設(shè)計，冷凍機組采用歐美*壓縮機，并采用對臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保(HFC)制冷劑R507，R23。

12.冷熱沖擊試驗箱*的安全保護功能：電源過載保護、漏電保護、控制回路過載、短路保護、壓縮機保護、接地保護、超溫保護、報警聲訊提示等。

13.箱體內(nèi)外部材質(zhì)采用不銹鋼板(SUS#304),外部材質(zhì)有種不同外箱材質(zhì)可供選擇:紋路處理不銹鋼表面，如經(jīng)常順著紋路擦拭，可使機器長時間保持嶄新的外觀(*此種選擇)特殊防銹處理鋼板靜電噴涂表面，質(zhì)地高檔(依客戶要求)

14.每個產(chǎn)品都根據(jù)客戶的要求訂做，保證了設(shè)備的高效節(jié)能，并在現(xiàn)場調(diào)試和驗收，保證用戶方便的使用性能。

四、執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

GB/T2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A：低溫試驗方法

GB/T2423.2-1989電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法

GJB360.7-87 溫度沖擊試驗

SJ/T10187-91Y73 系列溫度變化試驗箱—箱式

GJB150.3-86     GJB150.5-86 

GJB150.4-86 電子冷熱沖擊試驗箱，電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗箱，電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗機

五、型號規(guī)格與技術(shù)參數(shù)