從簡單的3D光學表面分析系統開始Polytec 的 TopMap Metro.Lab 是一種高精度白光干涉儀（相干掃描干涉儀），具有大的垂直范圍和納米分辨率。這意味著 Metro.Lab 外形測量系統非常適合非接觸式測量大面積表面和結構，甚至是柔軟和精密材料的平面度、臺階高度和平行度。作為一個完整的測量站，TopMap Metro.Lab 是您想要測量幾乎所有表面上的大面積外形的解決方案。即使在困難條件下，70mm 的大垂直測量范圍也允許您使用亞納米分辨率進行測量。由于 TopMap Metro.Lab 物超所值，無論是用于計量實驗室或是靠近生產現場的地方，都非常具有吸引力。它可以處理許多您以前使用觸覺系統進行處理的任務。與所有 TopMap 系統一樣，開放式的軟件架構還允許您編制常規任務或設置自己的用戶界面。亮點1.由于光學干涉測量原理，它屬于非接觸式2.遠心鏡頭讓測量陡峭部分（例如鉆孔）成為可能3.70 mm 的范圍，非常靈活4.快速測量大面積5.增強版的大面積測量范圍可達約 80 x 80 毫米6.易于使用的自動化軟件，生成 DIN / ISO 合規性參數7.具有智能表面掃描功能，適用于幾乎所有表面，即使是那些具有參差不齊反射率的表面8.可集成在防塵防振工作站中，用于機器大廳由于TopMap Metro.Lab具有的性價比，因此在從計量實驗室到接近生產的所有地點使用時都特別有吸引力。TopMap Metro.Lab允許比傳統的觸覺測量法更全面的表面分析。與所有TopMap系統一樣，開放的軟件架構也使您能夠對常規任務進行編程或設置您自己的用戶界面。