雷尼紹Renishaw 測(cè)針 測(cè)頭 測(cè)座

雷尼紹測(cè)針測(cè)頭，適合用于齒輪測(cè)量中心、三坐標(biāo)、機(jī)床及圓度儀等，常規(guī)產(chǎn)品有現(xiàn)貨。

公司所有的測(cè)針均有雷尼紹的防偽標(biāo)志。若有質(zhì)量問(wèn)題，可以退貨。

一、雷尼紹Renishaw 測(cè)頭測(cè)座

系統(tǒng)：

1、手動(dòng)測(cè)座

一系列固定的及手動(dòng)可轉(zhuǎn)位測(cè)座，用于連接觸發(fā)式測(cè)頭和機(jī)器軸套，可靈活地對(duì)復(fù)雜部件進(jìn)行檢測(cè)。

MH20i：適用于TP20測(cè)針模塊的可重復(fù)定位測(cè)座；

MH20：適用于TP20測(cè)針模塊的定位測(cè)座；

MH8：適用于M8螺紋固定測(cè)頭的可重復(fù)定位測(cè)座；

MIH(S)：具有內(nèi)置LCD位置顯示器的可重復(fù)定位測(cè)座；

PH1：具有偏置測(cè)頭底座的定位測(cè)座；

PH5/1：具有五個(gè)測(cè)頭插槽和B軸轉(zhuǎn)位的固定式測(cè)座；

PH5：具有五個(gè)測(cè)頭插槽的固定式測(cè)座；

PH6：具有一個(gè)測(cè)頭插槽的固定式測(cè)座；

PH6M：具有自動(dòng)鉸接的固定式測(cè)座。

2、機(jī)動(dòng)和自動(dòng)測(cè)座

機(jī)動(dòng)可重復(fù)定位測(cè)座可將測(cè)頭放置在720個(gè)位置中的一個(gè)，所以可以在多個(gè)角度下進(jìn)行測(cè)量。測(cè)座的這種重復(fù)性使這些位置可以重新調(diào)用，無(wú)需重新標(biāo)定，節(jié)省了操作時(shí)間，并能夠在合適的角度上使用測(cè)頭，達(dá)到確的結(jié)果。

PH10機(jī)動(dòng)可重復(fù)定位測(cè)座：可重復(fù)定位測(cè)座系列（PH10M、PH10MQ和PH10T）有軸套式安裝和測(cè)頭式安裝兩種選項(xiàng)

3、伺服測(cè)座

機(jī)動(dòng)伺服測(cè)座提供無(wú)限制的角度位置，適合水平測(cè)量臂坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。

4、觸發(fā)式測(cè)頭

觸發(fā)式測(cè)頭測(cè)量離散的點(diǎn)，是檢測(cè)三維幾何工件的理想選擇。

Renishaw提供品種齊全、具有理想性價(jià)比的系統(tǒng)，既可在手動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)上進(jìn)行簡(jiǎn)單的性能檢測(cè)，也可在數(shù)控高速機(jī)器上進(jìn)行復(fù)雜輪廓測(cè)量。

TP20測(cè)頭：具有模塊交換功能的緊湊型機(jī)械式測(cè)頭；

TP200測(cè)頭：具有模塊交換功能的緊湊型應(yīng)變片式測(cè)頭；

TP6(A)測(cè)頭：具有M8和自動(dòng)鉸接固定選項(xiàng)的堅(jiān)固機(jī)械式測(cè)頭；

TP7M測(cè)頭：具有自動(dòng)鉸接的應(yīng)變片式測(cè)頭；

OTP6M測(cè)頭：用于檢測(cè)軟材料的光學(xué)觸發(fā)式測(cè)頭；

TP2/TP1S(M)測(cè)頭：傳統(tǒng)觸發(fā)式測(cè)頭。

5、掃描測(cè)頭

掃描測(cè)頭是微型測(cè)量?jī)x器，每秒能夠采集幾百個(gè)表面點(diǎn)，可以測(cè)量形狀、尺寸和位置。掃描測(cè)頭也可用于采集離散點(diǎn)，與觸發(fā)式測(cè)頭類似。Renishaw提供了一系列解決方案，供各種尺寸和配置的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)選用。

SP25M測(cè)頭：具有掃描和觸發(fā)式模塊的25 mm直徑掃描測(cè)頭；

SP600測(cè)頭：高性能檢測(cè)、數(shù)字化和輪廓掃描；

SP80測(cè)頭：軸套安裝式掃描測(cè)頭，用長(zhǎng)測(cè)針提供的性能。

掃描原理

掃描測(cè)量提供了從規(guī)則型面工件或其他復(fù)雜工件上高速采集形狀和輪廓數(shù)據(jù)的方法。

觸發(fā)式測(cè)頭可采集表面離散點(diǎn)，而掃描系統(tǒng)則可獲取大量的表面數(shù)據(jù)，提供更詳細(xì)的工件形狀信息。因此，在實(shí)際應(yīng)用中如果工件形狀是整個(gè)誤差預(yù)算的重要考量因素或必須對(duì)復(fù)雜表面進(jìn)行檢測(cè)，掃描測(cè)量可謂理想之選。掃描需要根本不同的傳感器設(shè)計(jì)、機(jī)器控制和數(shù)據(jù)分析方法。Renishaw掃描測(cè)頭*特色的輕巧無(wú)源機(jī)構(gòu)（達(dá)或鎖定機(jī)構(gòu)），具有高固有頻率，適合高速掃描測(cè)量。分離的光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)直接（無(wú)需通過(guò)測(cè)頭機(jī)構(gòu)中的疊加軸）測(cè)量測(cè)針的變形量，以獲得更高的精度和更快的動(dòng)態(tài)響應(yīng)。

掃描系統(tǒng)如何采集并分析表面數(shù)據(jù)？

掃描測(cè)頭提供連續(xù)的偏移量輸出，與機(jī)器位置相結(jié)合，從而獲得表面位置數(shù)據(jù)。進(jìn)行掃描測(cè)量時(shí)，測(cè)頭測(cè)尖開(kāi)始與工件接觸，然后沿工件表面移動(dòng)，采集測(cè)量數(shù)據(jù)。在整個(gè)測(cè)量過(guò)程中，須將測(cè)頭測(cè)針的偏移量保持在測(cè)頭的測(cè)量范圍內(nèi)。要想取得測(cè)量結(jié)果，需要傳感器與機(jī)器控制緊密集成，以及*的濾波運(yùn)算，以將合成數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為可用的表面信息。掃描驅(qū)動(dòng)算法適用于工件輪廓測(cè)量，改變掃描速度使之匹配曲率的變化（表面越平，速度越快），然后調(diào)整數(shù)據(jù)采集速率（表面變化越快，采集的數(shù)據(jù)越多）。

二、雷尼紹Renishaw 測(cè)針：

M2探針 適用于TP2、TP20、TP200及其他采用適當(dāng)轉(zhuǎn)接頭的測(cè)頭

Renishaw利用其在測(cè)頭設(shè)計(jì)方面的豐富經(jīng)驗(yàn)，開(kāi)發(fā)了品種繁多的探針，坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、數(shù)控機(jī)床以及掃描系統(tǒng)測(cè)頭選配。

M2加長(zhǎng)桿/轉(zhuǎn)接頭

M3探針 適用于TP1、MIP、TP6及其他采用適當(dāng)轉(zhuǎn)接頭的測(cè)頭

M4探針 適用于TP7、MP1、MP3、MP4、MP6、MP7、MP8、MP9、MP10、MP11、MP12、MP700、LP2、OMP40、SP600、Cyclone及其他采用適當(dāng)轉(zhuǎn)接頭的測(cè)頭

M5探針 適用于其他廠商生產(chǎn)的測(cè)頭系統(tǒng)之探針產(chǎn)品

用戶定制探針

Renishaw用戶定制設(shè)計(jì)服務(wù)部

Renishaw的用戶定制產(chǎn)品部立足為用戶量身制作和提供坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、機(jī)床或掃描設(shè)備用測(cè)頭系統(tǒng)的完整解決方案，這一*服務(wù)可為用戶提供標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品無(wú)法實(shí)現(xiàn)的功能。

Renishaw用戶定制產(chǎn)品部位于英國(guó)總部，隸屬于集團(tuán)技術(shù)中心，主要負(fù)責(zé)產(chǎn)品應(yīng)用、設(shè)計(jì)、工程及制造技術(shù)的研究，在提供用戶定制產(chǎn)品解決方案方面擁有豐富經(jīng)驗(yàn)。

針對(duì)用戶面臨的諸多應(yīng)用問(wèn)題，解決的根本辦法在于探針的選擇。工件尺寸測(cè)量、檢測(cè)時(shí)間以及測(cè)頭性能均有可能受到選用的探針的影響。Renishaw在定制探針的設(shè)計(jì)過(guò)程中充分考慮了這些因素，確保為用戶提供理想的材料選擇及設(shè)計(jì)方案，以在應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)測(cè)頭性能。

Renishaw的用戶定制產(chǎn)品部迄今已為用戶提供了3000多種用于測(cè)頭系統(tǒng)的特殊定制探針，因此您要定制的探針極有可能已經(jīng)有了現(xiàn)成的解決方案。