深圳市灣邊貿(mào)易優(yōu)勢供應(yīng)美國Sinton公司BCT-400/BLS-I少子壽命測量儀，咨詢！

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Sinton BLS-I少子壽命測量儀

BLS-I測量系統(tǒng)用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測量，除需要有一個(gè)測量平面外，對樣塊 體形無嚴(yán)格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體 內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況，是單晶質(zhì)量的重要檢測項(xiàng)目。

BLS-I/BCT-400產(chǎn)品規(guī)格
壽命值測量范圍：100 ns至> 10 ms
電阻率測量范圍：0.5-300 Ohm-cm
測量（分析）模式
環(huán)境工作溫度：20°C-25°C
電源：BLS-I/BCT-400: 40 W
計(jì)算機(jī)與顯示器:200w
光源:60w
尺寸（無手柄）
BLS-I: 7.9 cm W x 16.3 cm D x 12.7 cm H
BCT-400: 6.1 cm W x 15.0 cm D x 12.7 cm H
通用電壓：100-240 VAC 50/60 Hz

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進(jìn)口美國Sinton BLS-I少子壽命測量儀套件

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