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NANOMAP D 光學探針雙模式三維形貌儀

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更新時間:2017-07-05 14:25:26瀏覽次數:1324

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產品簡介

產地 進口    
簡介:
美國AEP Technology公司主要從事半導體檢測設備, MEMS檢測設備, 光學檢測設備的生產制造,是表面測量解決方案行業的*供應者,專門致力于材料表面形貌測量與檢測。

詳細介紹

特點:
1.     結合了光學測量與探針測量的所有優點
2.     專業的SPIP分析軟件
3.     適應各種應用領域,無論是大范圍掃描還是高精度掃描
 
主要功能及應用:
多種測量功能
精確定量的面積(空隙率,缺陷密度,磨損輪廓截面積等)、體積(孔深,點蝕,圖案化表面,材料表面磨損體積以及球狀和環狀工件表面磨損體積等)、臺階高度、線與面粗糙度,透明膜厚、薄膜曲率半徑以及其它幾何參數等測量數據。
薄/厚膜材料
薄/厚膜沉積后測量其表面粗糙度和臺階高度,表面結構形貌, 例如太陽能電池產品的銀導電膠線
蝕刻溝槽深度,光刻膠/軟膜
亞微米針尖半徑選件和埃級別高度靈敏度結合,可測量溝槽深度形貌。
材料表面粗糙度、波紋度和臺階高度特性
分析軟件可輕易計算40多種的表面參數,包括表面粗糙度和波紋度。計算涵蓋二維或三維掃描模式。
 

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