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NANOMAP-LS 探針式三維形貌儀

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更新時間:2017-07-05 14:22:28瀏覽次數:1294

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產品簡介

產地 進口    
簡介:
美國AEP Technology公司主要從事半導體檢測設備, MEMS檢測設備, 光學檢測設備的生產制造,是表面測量解決方案行業的*供應者,專門致力于材料表面形貌測量與檢測。公司始終致力于微觀表面“三維"檢測技術和設備的研發及推廣,歷經近十年努力,已為30多個國家提供NanoMap系列三維表面形貌測量系統。
NanoMap-LS三維表面形貌/輪廓儀主要應用在金屬材料、生物材料、聚合物材料

詳細介紹

特點:
1.     全自動軟件控制
2.     0.1到100 mg接觸力
3.     垂直分辨率可達0.1nm 。
4.     每次掃描zui少1 0 0點,zui多可達1 5 0 ,0 0 0數據點
5.     一體化彩色攝像機在掃描同時可直接觀察樣品
6.     簡單一鍵操作與用戶友好的操作界面
 
應用領域:
測量表面可以覆蓋多種材料表面:金屬材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等,對于植物表面,生物材料,聚合物表面,光刻膠等“柔軟表面”也可測量無須擔心劃傷或破壞。設備傳感器精度高,穩定性好。熱噪聲是同類產品zui低的。
 
主要技術參數
垂直分辨率: 0.1nm
重復性: 0.54 nm(1Sigema @1um)
垂直范圍: 524um(1mm可選)
掃描范圍: 150mm x 150mm
 

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