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詳細介紹
高頻介電常數測試儀概述
介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數（ε），可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數字鎖定，標準頻率測試點自動設定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉換，數值顯示等新技術，改進了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減至低，并保留了原Q表中自動穩幅等技術，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質損耗，高頻回路有效并聯及串聯電阻，傳輸線的特性阻抗等。
該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。
Overview of high frequency dielectric constant tester
Dielectric loss and dielectric constant are important physical properties of various kinds of electric ceramics, device ceramics, capacitors and composite materials. By measuring dielectric loss tangent Tan δ and dielectric constant (ε), we can further understand various factors that affect dielectric loss and dielectric constant, and provide basis for improving material performance. The basic principle of the instrument is to adopt high frequency resonance method , and provides a universal, multi-purpose, multi range impedance test. It uses a single-chip computer as the control of the instrument. The measurement core adopts new technologies such as frequency digital lock, automatic setting of standard frequency test point, automatic search of resonance point, automatic conversion of Q value range, and numerical display. It improves the tuning loop, reduces the residual inductance of the tuning test loop to the minimum, and retains the technology of automatic amplitude stabilization in the original Q meter, making the new instrument in use It is more convenient and the measured value is more accurate. The instrument can measure Q value of high frequency inductance or resonance circuit, inductance and distributed capacitance of inductor, capacitance and tangent value of loss angle of capacitor, high frequency dielectric loss of electrical material, effective parallel and series resistance of high frequency circuit, characteristic impedance of transmission line, etc. under the condition of high test frequency.
This instrument is used in research institutions, schools, factories and other units to study the properties of new inorganic non-metallic materials.
A型高頻Q表和C型高頻Q表主要區別
A C
測試頻率范圍 25kHz～60MHz 100kHz～160MHz
主調電容控制 傳感器 步進馬達
電容搜索 無 有
A/C高頻Q表能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質損耗，高頻回路有效并聯及串聯電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關、學校、工廠等單位。A/C高頻Q表是北廣精儀儀器設備有限公司研制的產品，它以DDS數字直接合成方式產生信號源，頻率達60MHz/160MHz，信號源具有信號失真小、頻率精確、信號幅度穩定的優點，更保證了測量精度的精確性。A主電容調節用傳感器感應，電容讀數精確,且頻率值可設置。C主電容調節用步進馬達控制，電容讀數更加精確,頻率值和電容值均可設置。A/C電容、電感、Q值、頻率、量程都用數字顯示，在某一頻率下，只要能找到諧振點，都能直接讀出電感、電容值，大大擴展了電感的測量范圍，而不再是固定的幾個頻率下才能測出電感值的大小。A/C*的諧振點頻率自動搜索或電容自動搜索功能，能幫助你在使用時快速地找到被測量器件的諧振點，自動讀出Q值和其它參數。Q值量程可手動或自動轉換。
二、高頻介電常數測試儀工作特性
1．Q值測量
a．Q值測量范圍：2～1023；
b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；
c．標稱誤差
頻率范圍 25kHz～10MHz 固有誤差≤5％±滿度值的2% 工作誤差≤7％±滿度值的2%
頻率范圍 10MHz～60MHz 固有誤差 ≤6％±滿度值的2% 工作誤差≤8％±滿度值的2%
電感測量范圍 14.5nH～8.14H
直接測量范圍 1-460P 主電容調節范圍 40～500pF 準確度 150pF以下±1.5pF；150pF以上±1%
注：大于直接測量范圍的電容測量見使用方法。
信號源頻率覆蓋范圍
頻率范圍 10kHz～70MHz
CH1 10～99.9999kHz CH2 100～999.999kHz CH3 1～9.99999MHz CH4 10～70MHz ?頻率指示誤差3×10-5±1個字
5．Q合格指示預置功能：預置范圍：5～1000
6．Q表正常工作條件
a. 環境溫度：0℃～+40℃；
b．相對濕度：<80％；
c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
7．其他
a．消耗功率：約25W；
b．凈重：約7kg；
c.外型尺寸：（寬×高×深）mm：380×132×280。
三、性能特點：
1. 平板電容器
及片尺寸：φ25.4mmφ50mm
及片間距可調范圍和分辨率：≥10mm，±0.01mm
2. 園筒電容器
電容量線性：0.33pF / mm±0.05 pF
長度可調范圍和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm
3. 夾具插頭間距：25mm±1mm
4. 夾角損耗角正切值：≤4×10－4（1MHz時）
四. 工作原理
本測試裝置是由二只測微電容器組成，平板電容器一般用來夾持被測樣品，園筒電容器是一只分辨率高達0.0033pF的線性可變電容器，配用儀器作為指示儀器，絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放進平板電容器和不放進樣品的Q值變化，由園筒電容器的刻度讀值變化值而換算得到的。同時，由平板電容器的刻度讀值變化而換算得到介電常數。
五．使用方法
高頻Q表是多用途的阻抗測量儀器，為了提高測量精度，除了使Q表測試回路本身殘余參量盡可能地小，使耦合回路的頻響盡可能地好之外，還要掌握正確的測試方法和殘余參數修正方法。
1．測試注意事項
a．本儀器應水平安放；
b．如果你需要較精確地測量，請接通電源后，預熱30分鐘；
c．調節主調電容或主調電容數碼開關時，當接近諧振點時請緩調；
d．被測件和測試電路接線柱間的接線應盡量短，足夠粗，并應接觸良好、可靠，以減少因接線的電阻和分布參數所帶來的測量誤差；
e．被測件不要直接擱在面板頂部，離頂部一公分以上，必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊；
f．手不得靠近試件，以免人體感應影響造成測量誤差，有屏蔽的試件，屏蔽罩應連接在低電位端的接線柱。
2．高頻線圈的Q值測量（基本測量法）
六. 維修保養
1．新購儀器的檢查
新購的儀器能先用LKI-1電感組，將各個電感在各個不同頻率測試Q值，把測試的情況，例使用的電感號、測試頻率Q讀數、電容讀數等多次測得數及測試環境條件逐一詳細記錄，并把記錄保存起來，以供以后維修時作參考。
介電常數儀
介電常數介質損耗測試儀
液體介電常數介質損耗測試儀
薄膜介電常數測試儀
介質損耗因數測量儀
介電常數介質損耗測試儀
塑料介電常數測試儀
橡膠介電常數測試儀
GB1409介電常數測試儀
介電常數測試儀
電容率測試儀
電容器紙介電常數測試儀
點膠紙介電常數測試儀
LKI-1電感組是測試時作輔助電感用的，不能把這些電感當作高精度的標準電感看待。隨著測試環境條件不同，測得電感器Q值和分布電容可能略有不同。
2．使用和保養
高頻Q表是比較精密的阻抗測量儀器，在合理使用和注意保養情況下，才能保證*穩定和較高的測試精度。
a．熟悉本說明書，正確地使用儀器；
b．使儀器經常保持清潔、干燥；
c．本儀器保用期為18個月，如發現機械故障或失去準確度，可以原封送回本廠，免費修理。
在食品加工行業當中，儲藏、加工、滅菌、分級及質檢等方面都廣泛采用了介電常數的測量技術。例如，通過測量介電常數的大小，新鮮果蔬品質、含水率、發酵和干燥過程中的一些指標都得到間接體現，此外，根據食品的介電常數、含水率確定殺菌時間和功率密度等工藝參數也是重要的應用之一[1]。在路基壓實質量檢測和評價中，如果利用常規的方法，盡管測量結果比較準確，但工作量大、周期長、速度慢且對路面造成破壞。由于土體的含水量、溫度及密度都會對其介電特性產生不同程度的影響，因此可以采用雷達對整個區域進行測試以反算出介電常數的數值，通過分析介電性得到路基的密度及壓實度等參數，達到快速測量路基的密度及壓實度的目的[2]。此外，復介電常數測量技術還在水土污染的監測中得到了應用[3]。并且還可通過對巖石介電常數的測量對地震進行預報[4]。上面說的是介電常數測量在民用方面的部分應用，其在工業上也有重要的應用。典型的例子有低介電常數材料在超大規模集成電路工藝中的應用以及高介電常數材料在半導體儲存器件中的應用。在集成電路工藝中，隨著晶體管密度的不斷增加和線寬的不斷減小，互聯中電容和電阻的寄生效應不斷增大，傳統的絕緣材料二氧化硅被低介電常數材料所代替是必然的。目前Applied Materials 的BlackDiamond 作為低介電常數材料，已經應用于集成電路的商業化生產[5]。在半導體儲存器件中，利用高介電常數材料能夠解決半導體器件尺寸縮小而導致的柵氧層厚度及限的問題，同時具備特殊的物理特性，可以實現具有特殊性能的新器件[6]。在軍事方面，介電常數測量技術也廣泛應用于雷達和各種特
殊材料的制造與檢測當中。對介電常數測量技術的應用可以說是不勝枚舉。介電常數的測量技術已經廣泛應用于民用、工業和國防各個領域，并且有發展的空間和必要性。我們對測量介電常數的方法進行總結，能更清晰的認識測量方法的現狀，為某些應用提供一種可能適合的方法，是有一定理論和工程應用意義的。
.介電常數測量方法綜述介電常數的測量按材質分類可以分為對固體、液體、氣體以及粉末(顆粒)的測量[7]。固體電介質在測量時應用，通常可以分為對固定形狀大小的固體和對形狀不確定的固體的測量。相對于固體，液體和氣體的測試方法較少。對于液體，可以采用波導反射法測量其介電常數，誤差在5%左右[8]。此外國家標準中給出了在90℃、工頻條件下測量液體損耗角正切及介電常數的方法[9]。對于氣體，具體測試方法少且精度都不十分高。文獻[10]中給出一種測量方法，以測量共振頻率為基礎，在LC 串聯諧振電路中產生震蕩，利用數字頻率計測量諧振頻率，不斷改變壓強和記錄當前壓強下諧振頻率，后用作圖或者一元線性回歸法處理數據，得到電容變化率進而計算出相對介電常數。
無論申聯表示法還是井聯表示法，其介重相耗固著 un顯相等的。報如測量電路依據中聯元件來產生結果，且ur8太大雨在式（9中不能被溫略，則在計算電容賞必須先計置排聯電容，
本標準中的計算和測量是根據電流（w=2x ）正弦波形作出的。
電氣絕緣材料的性能和用途 電介質的用途電介質一般被用在兩個不同的方面，
用作電氣回路元件的支撐，并且使元件對地絕緣及元件之間相互絕緣;用作電 容器介質。
影響介電性能的因素下面分別討論頻率、溫度、溫度和電氣強度對介電性能的影響。
因為只有少數材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內它們的t，和un幾乎是恒定的，且被用作L程電介質材料，然而一般的電介發材科必須在所使用的頻率下測是其介質損耗因數和電容率.
電容率和介質損耗因數的變化是由于介質及化和電導而產生，醉重要的變化是及性分子引起的偶及子及化和材料的不均勺性導致的界面級化所引起的。
溫度損耗物數在一個頻率下可以出現一個醉大值，這個顆率值與電介質材料的溫度有關。介質損耗因數和電容率的溫度系數可以是正的或負的，這取決于在測量溫度下的介質損耗指數醉大值位置。
及化的程度隨水分的吸收量或電介質材料表面水膜的形成而增加，其結果使電容率，介質損耗因致和直流電導率增大。因此試驗前和試驗時對環境濕度進行控制是畢不可少的。
性;強度剖量著影響常常發生在 1xMHz以卜發破表質率范圍內。
電場強度存在界面及化時，自由離子的數目隨電場強度增大而增加，其損耗指數醉大值的大小和位置也隨此翻變，
在較高的頻率下，只要電介質中不出現局部放電，電容率和介質損耗因數與電場強度無關。
試樣和電及固體絕緣材料 試樣的幾何形狀測定材料的電容率和介質損耗因數，醉好采用板狀試樣.也可采用管狀試樣，
在測定電容率需要較高精度時，醉大的誤差來自試樣尺寸的誤差，尤其是試樣厚度的誤差，因此厚度應是夠大，以滿足測量所需要的精確度。厚度的選取決定于試樣的制備方法和各點間厚度的變化。對1%的精確度來講，1.5 mm的厚度就足夠了，但是對于更高精確度，醉好是采用較厚的試樣，側如 6mm~12 mm。測量厚度必須使測量點有規則地分布在整個試樣表面上，且厚度均勻度在±1%內。如果材料的密度是已知的，則可用稱量法測定厚度。選取試樣的面積時應能提供滿是精度要求的試樣電容。測量10F的電容時，使用有良好屏蔽保護的儀器。由于現有儀器的及限分辨能力約1pF，因此試樣應薄些，直徑為 10 cm 或更大些
需要測低損耗因數值時，很重要的一點是導線率聯電阻引人的損耗要盡可能地小，即被測電容和該電阻的乘積要盡可能小。同樣，被測電容對總電容的比值要盡可能地大。弟一點表示導線電阻要盡可能低及試樣電容要小。第二點表示接有試樣橋臂的總電存要盡可能小，且試樣電容要大。因此試樣電容醉好取值為 20 pF，在測量回路中，與試樣并聯的電喜不應大于約5pF。
加螞試樣上的電及電及可選用中任意一種。如果不用保護環，而且試樣上下的腳個電及難以對齊時，其中一個電及應比另一個電及大些。已經加有電及的試樣應放置在兩個金屬電及之間，這兩個金屬電及要比試樣上的電及稍小些。對于平板形和圓柱形這兩種不同電及結構的電容計算公式以及邊峰電容近似計算
的經驗公式由表1 給出。
對于介質損耗陰數的需量，這種類型的電慢在高頻下個能滿足要求，廊非試樣的表面和金屬及都非靠平整，圖1所示的電及系統也要求試樣厚度均勻。
試樣上不加電及表雨電導率很紙的試件可以不加電慢雨待試樣插人電及系統中測量，在這個電及系統中，試樣的一氮或兩側有一個充滿空氣或液體的間隙。平板電慢或圓柱形電結構的電容計算公式由表3給出。下而兩種型式的電及裝置特別合適。
空氣填充測微計電及當試樣播入和不插人時，電容都能調節到同一個值，不需進行測醉系統的電氣校正就能測定電容率。電及系統中可包括保護電及。
流體排出法在電容率運似等于試樣的電容率，而介質損耗因數可以額略的一種滴體內進行測量，這種測量與試樣厚度測量的精度關系不大。當相繼采用兩種流體時，試樣厚度和電及系統的尺寸可以從計算公式中消去，
試樣為與試驗池電及直徑相同的國片，或對測微計電及來說，試樣可以比電侵小到足以使邊緣效應忽略不計。在測微計電慢中，為了息略邊緣效應，試樣直徑約比測微計電及直徑小兩倍的試樣厚度。
邊緣效應為了避免邊緣效應引起電容率的測量誤差，電及系統可加上保護電及，保護電及的寬度應至少為兩倍的試樣厚度，保護電及和主電及之間的間限應比試樣厚度小，教如不能用保護環，通常需對邊緣電容進行修正，表1給出了近似計算公式。這些公式是經驗公式，只適用于規定的幾種特定的試樣形狀。
此外，在一個合適的顆率和溫度下，邊緣電容可采用有保護環和無保護環的（比較）測量來獲得，用所得到的邊緣電容修正其他頻率和溫度下的電容也可滿足精度要求， 構成電及的材料金屬結電及用及少量的硅脂或其敏介適的低描耗粘合劑將全屬箔貼在試樣上。金屬箔可以是純錫或鉛.也可以是這些金屬的合金，其厚度醉大為100 μm，也可使用厚度小于10μm的鋁箔。但是，智箔在較高溫度
下易形成一層蟲絕線的氧化膜，這層氧化膜會影響測量結果，此時可使用金箔燒熔金屬電及。
妃熔金屬電及適用于教璃、云母和陶瓷等材料，銀是背遍使用的，但是在病溫或病醚下，醉好采用金，噴罐金屬電及
鋅或鋼電及可以噴波在試樣上，它們能直接在粗糙的表面上成膜。這種電極還能噴在布上，國為它門不穿透非常小的孔眼。
陰及蒸發或高真空蒸發金屬電及假如處理結果既不改變也不破壞絕緣材料的性能，而且材料承受高真空時也不過度逸出氣體，則本方法是可以采用的。這一類電極的邊緣應界限分明。
永電及和其他液體金屬電及把試樣夾在兩塊互相配合好的凹模之間，凹模中充有液體金屬，該液體金屬必須是純凈的。
汞電及不能用于高溫，即使在室溫下用時，也應采取措施，這是因為它的蒸氣是有毒的。
伍德合金和其他低熔點合金能代替泵。但是這些合金通常含有鎘，偶象果一樣，也是毒性元素。這些合金只有在良好抽風的房間或在抽風柜中才能用于100℃以上，且操作人員應知道可能產生的健康危害。
導電澤氣，能使試樣的條件處理在涂上電及后進行，對研究濕度的影響時特別有用。此種電及的缺點是試樣涂上銀漆后不能馬上進行試驗，通需要求 1h以上的氣T或低溫烘下時間，以便去除所有的微量溶劑，否財，游劑可使電容率和介質損耗因數增加。同時應注意漆中的溶劑對試樣應沒有持久的影響。要使用漆法做到邊緣界限分明的電極較困難，但使用壓板或壓敏材料遮框噴漆可克服此局限。但在*的額率下.因銀漆電極的電導率會非常低，此時別不能使用。
石星一般不推養使用石墨，但是有時候也可采用，特別是在較低的頻率下。石墨的電阻會引起損耗的顯著增大，若采用石墨懸浮液制成電及，則石墨還會穿透試樣。
電及的選擇板狀試樣考慮下面兩點很重要，。） 不加電及，測量時快而方便，并可避免由于試樣和電及間的不良接觸面引起的誤差， b）若試樣上是加電及的，由測量試樣厚度h時的相對誤差 小h/所引起的相對電容率的相對誤
差 36，/e， 可由下式得到，
s =………………………………(12) A會
式中∶ ANt，——相對電容率的偏差; e，——相對電容率; A——試樣厚度， h—-試樣厚度的偏差。
若試樣上加電及，且試樣放在有固定距離S>h的兩個電及之間，這時
頭= （1-丟）. A…………………………式中，A.，、，h、AA同式（12）。
ε，——試樣浸入所用流體的相對電容率，對于在空氣中的測量則e，等于1。
對于相對電容率為10以上的無孔材料，可采用沉積金屬電及，對于這些材料，電及應覆蓋在試樣的整個表面上，并且不用保護電及。對于相對電容率在3- 10之間的材料，能給出醉高精度的電及是金屬箔、汞或沉積金屬，選擇這些電及時要注意適合材料的性能。若厚度的測量能達到足夠精度時，試樣上不加電及的方法方便而更可取。假如有一種合適的流體，它的相對電容率已知或者能很準確地測出，則采用演體排出決是醉好的
管狀試樣對管狀試樣而言，醉合適的電及系統將取決于它的電容率、管繁厚度、直徑和所要求的測量精度。一般情況下，電及系統應為一個內電及和一個稍為窄一些的外電極和外電及凋端的保護電極組成，外電極和保護電極之間的間隙應比管壁厚度小。對小直徑和中等直徑的管狀試樣，外表面可加三條情帶或沉積金屬帶，中間一條用作為外電極（測量電極），兩端各有一條用作保護電及。肉電極可用汞，沉積金屬膜或配合較好的金屬芯軸。
高電容率的管狀試樣，其內電及相外電及明以伸展到管狀試樣的全部長度上，可以不用保護電及。大直徑的管狀或圈筒形試樣，其電極系統可以是圓形或矩形的搭接，并且只對管的部分圓周進行試驗。這種試樣可按板狀試樣對待，金屬館、沉積金屬膜或配合較好的金屬芯軸內電極與金屬筒或沉積金屬膜的外電及和保擴電極 起使用。如采用金屬情做內電及，為了保證電授和試閘之間的良好接觸，需在管內采用一個彈性的可膨脹的夾具。
對于非常準確的測量，在厚度的測量能達到足夠的精度時，可采用試樣上不加電及的系統。對于相對電容率不都過10的管狀試樣，醉方便的電及是用金屬筋、汞或沉積金屬膜。相對電容率在10以上的管狀試樣，應采用沉積金屬膜電及;燒管上可采用燒熔金屬電及。電及可像帶材一樣包覆在管狀試樣的全部圓周或部分氮周上。
液體絕緣材料試驗池的設計對于低介質損耗因數的待測液體.電概系控醉雷要的特點縣∶容易清洗、再裝配（必要時）和灌注波體時不移動電及的相對位置。此外還應注意，液體需要量少，電及材料不影響液體，液體也不影響電慢材料，溫度易于控制，硼點和接線能適當地屏蔽;支撐電及的地緣文架應不浸沉在液體中，還有，試驗池不應含有太短的爬電距離和尖銳的邊緣，否則能影響測量精度
滿足上述要求的試驗施見圖2～圖4。電及是不銹鋼的，用疆硅酸鹽玻璃或石英玻璃作絕緣。
所示的試驗池也可用件電阻率的測定，IEC 60247，1978對此已詳細敘述.由于有些液體如氧化物，其介質損耗因數與電授材料有明顯的關系，不銹鋼電吸不總是醉合適的。有時，用鋁和杜拉懈制成的電及儒得到比較穩定的結果。
試驗池的準備應用-種或幾種合適的溶劑來清洗試驗蓋，或用不含有不穩定化合物的溶劑多次清洗。可以通過化學試驗方法檢直其純度，或通過 個已知的低電容率和介質損耗因數的液體試樣測量的結果來確定。當試驗池試驗幾種類型的絕緣液體時，若單獨使用溶劑不能去除污物，可用一種柔和的擦凈劑和水來清出試檢池的表面。若使用-系列溶劑清洗時則醉后要用醉大沸點低于100℃的分析級的石油匱來再次請洗，或者用任一種對一個已知低電容率和介質損耗因數的液體側量能給出正確值的溶劑來清洗，并且這種溶劑在化學性質上與被試液體應是相似的。推劍使用下述方法進行清洗。
試驗池應全部拆開，*地消洗各部件，用溶劑回流的方法或放在木使用溶劑中攪動反復洗保方法均可去除各部件上的溶劑并放在清潔的烘箱中，在110℃左右的溫度下烘干 30 min。待試驗池的各部件冷卻到室溫，再重新裝配起來。池內應注入一些待試的液體.停幾分鐘婚，倒出在上述各步驟中，各部件可用干凈的針或鉗子巧妙地處理，以使試驗池有效韻內表面不與手接觸。
注1∶在同種質量油的含規試驗中，上面所說的清洗步驟可以代之為在每一次試驗后用沒有殘留紙屬約于系簡單地擦擦試驗油，
外，氯化物溶劑受光作用會分解
當需要高精度測定液體電介質的相對電容率時，應首先用一種已知相對電容率的校正液體（如苯）來測定"電及常數"，
"電及常數"C、的確定按式（14），
c-G,-G式中∶ C——-電及常數C——空氣中電及裝置的電容; C.。——充有校正液體時電及裝置的電容;。——校正液體的相對電容率。從C。和C.的差值可求得校正電容C;…………………………(15) C,=G-C.t-G-G……………………( 15)并按照公式
來計算液體未知相對電容率ε。
式中∶ C-——校正電容; C——空氣中電及裝置的電容; C.—--電及常數;
C-——電及裝置充有被試液體時的電 tx——-液體的相對電容率。假如C，C。和Cx值是在c.是已知的某一相同溫度下測定的，則可求得醉高精度的t值。采用上述方法測定液體電介質的相對電容率時，可保證其測得結果有足夠的糖度，因為它滴除了由于寄生電容或電及間隙數值的不準確測量所引起的誤差。
D-6 測量方法的選擇
E-測量電容率和介質損耗因數的方法可分成兩種;零點指示法和諾振法。
F-6.1 零點指示法透用于頻率不題過5 MH2時的測量。測量電容率和介質損耗國數可用勢代達，也就是在接入試樣和不接試樣兩種狀態下，調節國路的一個臂使電橋平衡。通常回路采用西林電橋、變壓器附件或過多操作，就可采用保護電及;它沒有其他網絡的缺點。
G-6.2 諧振法適用于10 kHz～幾百MHz的頻率范圍內的測量。該方法為替代法測量，常用的是變電抗
H-法。但誠方法不適合采用保護電及。
I-注，典盟的電橋和電路示例見剛錄。附錄中所舉的例子自然是不全面的，敘述電橋和測量方法報導見有關文獻和
J-該神儀器的原埋說明書。
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