詳細介紹
二維測高儀(手動型)tesa m+h tesa micro-hite
tesa測高儀是一臺獨立電源的測高儀。它適用于測量外表面、內表面、臺階、 深度和間距的尺寸,它還適用于測量形狀和位置誤差,例如垂直度和直線度。
tesa測高儀的功能特點:
tesa測高儀是一臺獨立電源的測高儀。它適用于測量外表面、內表面、臺階、 深度和間距的尺寸,它還適用于測量形狀和位置誤差,例如垂直度和直線度。
本測高儀是一個模組化設計系統,故用戶可根據使用要求,選購所需要的部分。
操作者能借助內裝電子泵產生的氣墊,輕快地使測高儀在平面上移動。
被測值即刻在控制臺上顯示、無需操作者作費時的人為運算。
可作1維測量、2維測量、角度測量。
可編制和執行1維或2維測量程序,包括公差和統計計算(x、cp、cpk、等)
可存儲99個測量程序,每個程式可64個參數,共可存儲3000個測量結果。
技術描述
性能指標
1、二維測高儀技術資料:
型 號 測量顯示范圍 zui大誤差
micro-hite 600 615mm (2+3l)um
micro-hite 900 920mm (2+3l)um
測量不確定度(2+3l)毫米(l單位米)
重復性+2s-2s小于等于2um
用tesa ig-13測頭(no.07.60140)時,垂直度和直線度的zui大測量誤差:(正向測量和側向測量時):3um
控制臺上顯示的解析度:0.0005/0.001/0.01/0.1/1mm
允許測頭移動速度:300mm/s
取樣時測力1.6n正負0.25n
介面rs232
長度標準采用光柵。
為了保證儀器精度*不變,測量頭的自動裝置和導軌系統是相互分開的懸掛式。
不論測高度,還是測垂直度、直線度,對系統誤差均進行修正,從而提高了測量精度。
可在內置打印機上打印,也可輸出到外接打印機在a4紙上打印。
測圓表面時,可自動搜索到轉折點。
測頭直徑值自動補償,即可作補償測頭直徑值的測量。
測量時也可表示鏈式尺寸。
可顯示變動量從而用作平行度誤差等的測量。
測量值可直角坐標值顯示,也可極坐標值顯示。
檢測后,可以逐一對存儲的測量結果進行檢查,以檢查有無粗大差錯。
可作坐標原點平移、坐標旋轉,從而建立要求的坐標系。
可以設置理論點(虛點)。
由在一圓周上均勻的幾個實際圓測量,計算它們的回歸圓直徑,回歸圓的圓心位置。
使用ig-13測頭,可以測垂直度、直線度,測量結果可打印曲線,可顯示實際垂直度的zui小
二乘直線的直線度誤差。
對測量文件可進行檢查修改、刪除、復制。
可提供統計分析軟件。
具有系統"自測"檢查功能。